WO2024253623 - SURFACE DEFECT DETECTION SYSTEM
National phase entry:
Publication Number
WO/2024/253623
Publication Date
12.12.2024
International Application No.
PCT/TR2024/050594
International Filing Date
04.06.2024
Title **
[English]
SURFACE DEFECT DETECTION SYSTEM
[French]
SYSTÈME DE DÉTECTION DE DÉFAUT DE SURFACE
Applicants **
AGTEKS ORME VE TEKSTIL ENDUSTRILERI SANAYI VE TICARET LIMITED SIRKETI
BOSB Bakircilar San. Sit. Orkide Cd. 5/7
34524 Beylikdüzü/Istanbul, TR
Inventors
AGRIKLI, Mehmet
BOSB Bakircilar San. Sit. Orkide Cd. 5/7
34524 Beylikdüzü/Istanbul, TR
Priority Data
2023/006658
07.06.2023
TR
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
| Number of Independent Claims | * |
| Number of Priorities | * |
| Number of Multi-Dependent Claims | * |
| Number of Drawings | * |
| Pages for Publication | * |
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International Searching Authority |
EPO
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Legal Entity
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| Entry into National Phase under |
Chapter II
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Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing | 1439 | |
| EPO | Filing, Examination | 7551 | |
| Japan | Filing | 593 | |
| South Korea | Filing | 575 | |
| USA | Filing, Examination | 3310 |

Total: 13468 USD
The term for entry into the National Phase has expired. This quotation is for informational purposes only
Abstract[English]
The present invention provides a system for actively detecting defects on the surface of an object (1) with a surface area. The system comprises a calibratable image capturing unit configured to capture images from at least one target area of the object, the image capturing unit comprising an image capturing device (6) and optionally a first mirror (7) configured to transmit images from at least one target area (4) to the image capturing device; an image sensor (8) converting the images taken by the image capturing unit into data; a processor communicating with the image sensor to analyze the data received from the image sensor; and at least one light source, characterized in that at least the image capturing device or the optional first mirror is configured to perform a rotational oscillation.[French]
La présente invention propose un système de détection active de défauts sur la surface d'un objet (1) présentant une zone de surface. Le système comprend une unité de capture d'images étalonnable configurée pour capturer des images à partir d'au moins une zone cible de l'objet, l'unité de capture d'images comprenant un dispositif de capture d'images (6) et facultativement un premier miroir (7) configuré pour transmettre des images d'au moins une zone cible (4) au dispositif de capture d'images; un capteur d'images (8) convertissant les images prises par l'unité de capture d'images en données; un processeur communiquant avec le capteur d'images pour analyser les données reçues en provenance du capteur d'images; et au moins une source de lumière, le système étant caractérisé en ce qu'au moins le dispositif de capture d'images ou le premier miroir facultatif est configuré pour effectuer une oscillation de rotation.