WO2024209396 - CORRECTION OF RETENTION TIME DRIFT WITH SCOUT-MRM
National phase entry is expected:
Publication Number
WO/2024/209396
Publication Date
10.10.2024
International Application No.
PCT/IB2024/053309
International Filing Date
04.04.2024
Title **
[English]
CORRECTION OF RETENTION TIME DRIFT WITH SCOUT-MRM
[French]
CORRECTION DE DÉRIVE DE TEMPS DE RÉTENTION AVEC REPÉRAGE-MRM
Applicants **
DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE. LTD.
33 Marsiling Industrial Estate Road 3
#04-06
Singapore 739256, SG
Inventors
BURTON, Lyle Lorrence
c/o Sciex
71 Four Valley Drive
Concord, Ontario L4K 4V8, CA
COX, David M.
c/o Sciex
71 Four Valley Drive
Concord, Ontario L4K 4V8, CA
IVOSEV, Gordana
c/o Sciex
71 Four Valley Drive
Concord, Ontario L4K 4V8, CA
LEBLANC, Yves
c/o Sciex
71 Four Valley Drive
Concord, Ontario L4K 4V8, CA
Priority Data
63/494,368
05.04.2023
US
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
| Number of Independent Claims | * |
| Number of Priorities | * |
| Number of Multi-Dependent Claims | * |
| Number of Drawings | * |
| Pages for Publication | * |
| Number of Pages with Drawings | * |
| Pages of Specification | * |
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International Searching Authority |
EPO
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| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
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| Entry into National Phase under |
Chapter I
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| Translation |
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Recalculate
* The data is based on automatic recognition. Please verify and amend if necessary.
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Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing | 1239 | |
| EPO | Filing, Examination | 5067 | |
| Japan | Filing | 535 | |
| South Korea | Filing | 576 | |
| USA | Filing, Examination | 2635 |
Total: 10052 USD
The term for entry into the National Phase has expired. This quotation is for informational purposes only
Abstract[English]
Systems and methods are provided for correcting a measured retention time or expected retention time of an ion intensity measurement. A measured sentinel retention time is received for each of a plurality of sentinel ion intensity measurements. During acquisition, sentinel analysis is performed. In sentinel analysis, a plurality of ion intensity measurements is divided into two or more groups so that different groups of the two or more groups are measured separately. At least one sentinel ion intensity measurement in each group of the two or more groups is selected to identify a next group of the two or more groups to be measured. A measured retention time or an expected retention time of at least one non-sentinel ion intensity measurement of the two or more groups is corrected using the plurality of measured sentinel retention times.[French]
L'invention concerne des systèmes et des procédés pour corriger un temps de rétention mesuré ou un temps de rétention attendu d'une mesure d'intensité d'ions. Un temps de rétention de sentinelle mesuré est reçu pour chacune d'une pluralité de mesures d'intensité d'ions sentinelles. Pendant l'acquisition, une analyse de sentinelle est effectuée. Dans l'analyse de sentinelle, une pluralité de mesures d'intensité d'ions est divisée en deux groupes ou plus de telle sorte que différents groupes des deux groupes ou plus sont mesurés séparément. Au moins une mesure d'intensité d'ions sentinelles dans chaque groupe des deux groupes ou plus est sélectionnée pour identifier un groupe suivant des deux groupes ou plus à mesurer. Un temps de rétention mesuré ou un temps de rétention attendu d'au moins une mesure d'intensité d'ions non sentinelles des deux groupes ou plus est corrigé à l'aide de la pluralité de temps de rétention de sentinelle mesurés.