WO2024176009 - CROP QUALITY MONITORING AND MAPPING

National phase entry is expected:
Publication Number WO/2024/176009
Publication Date 29.08.2024
International Application No. PCT/IB2024/050447
International Filing Date 17.01.2024
Title **
[English] CROP QUALITY MONITORING AND MAPPING
[French] SURVEILLANCE ET CARTOGRAPHIE DE LA QUALITÉ DES CULTURES
Applicants **
AGCO CORPORATION 4205 River Green Parkway Duluth, Georgia 30096, US
Inventors
LEE, Jason AGCO 202 Industrial Parkway Jackson, Minnesota 56143, US
SNYDER, Todd AGCO 202 Industrial Parkway Jackson, Minnesota 56143, US
Priority Data
63/486,056   21.02.2023   US
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Application details
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Number of Pages with Drawings *
Pages of Specification *
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International Searching Authority
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Entry into National Phase under
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Quotation for National Phase entry

Country StagesTotal
China Filing1172
EPO Filing, Examination5271
Japan Filing589
South Korea Filing574
USA Filing, Examination2710
MasterCard Visa

Total: 10316

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Abstract[English] Methods and systems for monitoring one or more crop characteristics of crop material harvested by a harvesting machine in a working environment. Sensor data indicative of a cutting force applied by one or more cutting members of a header operably coupled to the harvesting machine is obtained by a sensing arrangement. The sensor data is analysed to determine a measure of staik strength, with the stalk strength being used to determine a crop condition metric. A crop condition metric map may be generated.[French] L'invention concerne des procédés et des systèmes pour surveiller une ou plusieurs caractéristiques de culture de matériau de récolte récolté par une machine de récolte dans un environnement de travail. Des données de capteur indiquant une force de coupe appliquée par un ou plusieurs éléments de coupe d'un organe de coupe accouplé de manière fonctionnelle à la machine de récolte sont obtenues par un agencement de détection. Les données de capteur sont analysées pour déterminer une mesure de résistance de tige, la résistance de tige étant utilisée pour déterminer une métrique d'état de culture. Une carte des métriques d'état de culture peut être générée.
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