WO2025003771 - FAST INSPECTION OF DEVICE UNDER TEST
National phase entry is expected:
Publication Number
WO/2025/003771
Publication Date
02.01.2025
International Application No.
PCT/IB2024/050055
International Filing Date
03.01.2024
Title **
[English]
FAST INSPECTION OF DEVICE UNDER TEST
[French]
INSPECTION RAPIDE D'UN DISPOSITIF SOUS TEST
Applicants **
INZIV LTD.
16 Hartom St.
RAD Building
9777516 Jerusalem, IL
Inventors
LEWIS, David Judah
16 Hartom St.
RAD Building
9777516 Jeruslem, IL
MAAYAN, Eran
16 Hartom St.
RAD Building
9777516 Jerusalem, IL
DADOOSH, Ori
16 Hartom St.
RAD Building
9777516 Jerusalem, IL
IGNATOV, Andrey
16 Hartom St.
RAD Building
9777516 Jerusalem, IL
KROL, Alexander
16 Hartom St.
RAD Building
9777516 Jerusalem, IL
HUANG, Baoting
16 Hartom St.
RAD Building
9777516 Jerusalem, IL
GRESERMAN, Alexander
16 Hartom St.
RAD Building
9777516 Jerusalem, IL
COHEN, Eyal Fabrice
16 Hartom St.
RAD Building
9777516 Jerusalem, IL
YOHAI, Yuval
16 Hartom St.
RAD Building
9777516 Jerusalem, IL
DEKHTER, Rina
16 Hartom St.
RAD Building
9777516 Jerusalem, IL
Priority Data
63/511,176
29.06.2023
US
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
| Number of Independent Claims | * |
| Number of Priorities | * |
| Number of Multi-Dependent Claims | * |
| Number of Drawings | * |
| Pages for Publication | * |
| Number of Pages with Drawings | * |
| Pages of Specification | * |
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International Searching Authority |
USPTO
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| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
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| Entry into National Phase under |
Chapter I
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| Translation |
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Recalculate
* The data is based on automatic recognition. Please verify and amend if necessary.
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Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing | 1183 | |
| EPO | Filing, Examination | 6540 | |
| Japan | Filing | 589 | |
| South Korea | Filing | 575 | |
| USA | Filing, Examination | 2280 |
Total: 11167 USD
The term for entry into the National Phase has expired. This quotation is for informational purposes only
Abstract[English]
An example method to test a collection of individual devices of a device under test (DUT) uses a test tool having probes and includes sequentially testing multiple pluralities of individual devices while the probes remain in physical contact with the DUT by moving the probes and/or the DUT while maintaining physical contact between the probes and the DUT, where the moving brings, for each successive plurality, the probes (i) into parallel electrical contact with a set of contacts associated with the plurality to drive their parallel electrical excitation, then (ii) out of electrical contact with the set of contacts. Another example method electrically couples a power source to probes positioned at a first side of a DUT and a conductive surface positioned at a second side of the DUT, then controllably electrically excites a plurality of individual devices by applying an alternating voltage to the probes relative to the conductive surface.[French]
Un procédé de l'invention de test de collection de dispositifs individuels d'un dispositif sous test donné à titre d'exemple utilise un outil de test avec des sondes, et comprend le test séquentiel de multiples pluralités de dispositifs individuels pendant que les sondes restent en contact physique avec le dispositif sous test en déplaçant celles-ci et/ou le dispositif sous test tout en maintenant un contact physique entre les sondes et le dispositif sous test, le déplacement amenant les sondes (i) en contact électrique parallèle avec un ensemble de contacts associés à la pluralité de dispositifs, pour chaque pluralité de dispositifs successifs, afin d'entraîner leur excitation électrique parallèle, puis (ii) hors contact électrique avec l'ensemble de contacts. Un autre procédé donné à titre d'exemple couple électriquement une source d'alimentation à des sondes positionnées sur un premier côté d'un dispositif sous test et une surface conductrice positionnée sur un second côté du dispositif sous test, puis excite électriquement de manière contrôlée une pluralité de dispositifs individuels par application d'une tension alternative aux sondes par rapport à la surface conductrice.