WO2025003771 - FAST INSPECTION OF DEVICE UNDER TEST

National phase entry is expected:
Publication Number WO/2025/003771
Publication Date 02.01.2025
International Application No. PCT/IB2024/050055
International Filing Date 03.01.2024
Title **
[English] FAST INSPECTION OF DEVICE UNDER TEST
[French] INSPECTION RAPIDE D'UN DISPOSITIF SOUS TEST
Applicants **
INZIV LTD.
Inventors
LEWIS, David Judah
MAAYAN, Eran
DADOOSH, Ori
IGNATOV, Andrey
KROL, Alexander
HUANG, Baoting
GRESERMAN, Alexander
COHEN, Eyal Fabrice
YOHAI, Yuval
DEKHTER, Rina
Priority Data
63/511,176   29.06.2023   US
Application details
Total Number of Claims/PCT *
Number of Independent Claims *
Number of Priorities *
Number of Multi-Dependent Claims *
Number of Drawings *
Pages for Publication *
Number of Pages with Drawings *
Pages of Specification *
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Number of Office Actions *
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International Searching Authority
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Recordal of a Change of the Applicant's Name/Address
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Type of Assignment
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Applicant's Legal Status
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Entry into National Phase under
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Patent Delivery
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Translation

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Quotation for National Phase entry

Country StagesTotal
China Filing, Examination, Granting2207
EPO Filing, Examination, Granting11237
Japan Filing, Examination, Granting2251
South Korea Filing, Examination, Granting2249
USA Filing, Examination, Granting4310
MasterCard Visa
Total: 22,254

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Abstract[English] An example method to test a collection of individual devices of a device under test (DUT) uses a test tool having probes and includes sequentially testing multiple pluralities of individual devices while the probes remain in physical contact with the DUT by moving the probes and/or the DUT while maintaining physical contact between the probes and the DUT, where the moving brings, for each successive plurality, the probes (i) into parallel electrical contact with a set of contacts associated with the plurality to drive their parallel electrical excitation, then (ii) out of electrical contact with the set of contacts. Another example method electrically couples a power source to probes positioned at a first side of a DUT and a conductive surface positioned at a second side of the DUT, then controllably electrically excites a plurality of individual devices by applying an alternating voltage to the probes relative to the conductive surface.[French] Un procédé de l'invention de test de collection de dispositifs individuels d'un dispositif sous test donné à titre d'exemple utilise un outil de test avec des sondes, et comprend le test séquentiel de multiples pluralités de dispositifs individuels pendant que les sondes restent en contact physique avec le dispositif sous test en déplaçant celles-ci et/ou le dispositif sous test tout en maintenant un contact physique entre les sondes et le dispositif sous test, le déplacement amenant les sondes (i) en contact électrique parallèle avec un ensemble de contacts associés à la pluralité de dispositifs, pour chaque pluralité de dispositifs successifs, afin d'entraîner leur excitation électrique parallèle, puis (ii) hors contact électrique avec l'ensemble de contacts. Un autre procédé donné à titre d'exemple couple électriquement une source d'alimentation à des sondes positionnées sur un premier côté d'un dispositif sous test et une surface conductrice positionnée sur un second côté du dispositif sous test, puis excite électriquement de manière contrôlée une pluralité de dispositifs individuels par application d'une tension alternative aux sondes par rapport à la surface conductrice.