WO2024161216 - ELECTRON DIFFRACTION SYSTEM FOR CHARACTERIZING NANOCRYSTALLINE STRUCTURES

National phase entry is expected:
Publication Number WO/2024/161216
Publication Date 08.08.2024
International Application No. PCT/IB2024/000071
International Filing Date 31.01.2024
Title **
[English] ELECTRON DIFFRACTION SYSTEM FOR CHARACTERIZING NANOCRYSTALLINE STRUCTURES
[French] SYSTÈME DE DIFFRACTION D'ÉLECTRONS POUR CARACTÉRISER DES STRUCTURES NANOCRISTALLINES
Applicants **
ELDICO SCIENTIFIC AG Park Innovaare: Deliverylab 5234 Villigen, CH
Inventors
GARBUGLIA, Francesco Park Innovaare: Deliverylab 5234 Villigen, CH
SANTISO-QUINONES, Gustavo Park Innovaare: Deliverylab 5234 Villigen, CH
SAMPERISI, Laura Park Innovaare: Deliverylab 5234 Villigen, CH
Priority Data
63/442,316   31.01.2023   US
Application details
Total Number of Claims/PCT *
Number of Independent Claims *
Number of Priorities *
Number of Multi-Dependent Claims *
Number of Drawings *
Pages for Publication *
Number of Pages with Drawings *
Pages of Specification *
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International Searching Authority
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Applicant's Legal Status
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Entry into National Phase under
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Translation

Recalculate

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Quotation for National Phase entry

Country StagesTotal
China Filing1334
EPO Filing, Examination6402
Japan Filing594
South Korea Filing574
USA Filing, Examination2710
MasterCard Visa

Total: 11614

The term for entry into the National Phase has expired. This quotation is for informational purposes only

Abstract[English] One variation of a system includes: a housing configured to hold a vacuum; a primary assembly; and a cooling assembly. The primary assembly includes: a sample receiver including a base section and a sample holder mounted to the base section and configured to transiently receive and retain a sample specimen; a receiver platform configured to receive and support the sample receiver; and a set of positioner stages flexibly coupled to the receiver platform and configured to transiently drive the sample holder to locate the sample specimen in a position intersecting an electron pathway. The cooling assembly includes: a cold finger defining an end submerged in a volume of coolant; and a conductive cooling braid coupled to the cold finger and to the primary assembly; and configured to communicate heat from the primary assembly into the cold finger to cool the sample specimen to temperatures within a target sample temperature range.[French] Une variante d'un système comprend : un boîtier configuré pour contenir un vide ; un ensemble primaire ; et un ensemble de refroidissement. L'ensemble primaire comprend : un récepteur d'échantillon comprenant une section de base et un porte-échantillon monté sur la section de base et configuré pour recevoir et retenir de manière transitoire un spécimen d'échantillon ; une plateforme de récepteur configurée pour recevoir et supporter le récepteur d'échantillon ; et un ensemble d'étages de positionneur couplés de manière flexible à la plateforme de récepteur et configurés pour entraîner de manière transitoire le porte-échantillon pour localiser le spécimen d'échantillon dans une position croisant une voie d'électrons. L'ensemble de refroidissement comprend : un doigt froid définissant une extrémité immergée dans un volume de fluide de refroidissement ; et une tresse de refroidissement conductrice couplée au doigt froid et à l'ensemble primaire ; et configurée pour communiquer de la chaleur provenant de l'ensemble primaire au doigt froid pour refroidir le spécimen d'échantillon à des températures dans une plage de températures d'échantillon cible.
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