WO2023012702 - SPACE CHARGE REDUCTION IN TOF-MS
National phase entry:
Publication Number
WO/2023/012702
Publication Date
09.02.2023
International Application No.
PCT/IB2022/057225
International Filing Date
03.08.2022
Title **
[English]
SPACE CHARGE REDUCTION IN TOF-MS
[French]
RÉDUCTION DE CHARGE D'ESPACE DANS TOF-MS
Applicants **
DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE. LTD.
33 Marsiling Industrial Estate Road 3,
#04-06
Singapore 739256, SG
Inventors
RYUMIN, Pavel
71 Four Valley Drive
Concord, Ontario L4K 4V8, CA
BLOOMFIELD, Nic G.
71 Four Valley Drive
Concord, Ontario L4K 4V8, CA
CHERNUSHEVICH, Igor
71 Four Valley Drive
Concord, Ontario L4K 4V8, CA
Priority Data
63/229,607
05.08.2021
US
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
| Number of Independent Claims | * |
| Number of Priorities | * |
| Number of Multi-Dependent Claims | * |
| Number of Drawings | * |
| Pages for Publication | * |
| Number of Pages with Drawings | * |
| Pages of Specification | * |
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International Searching Authority |
EPO
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| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
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| Entry into National Phase under |
Chapter I
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| Translation |
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Recalculate
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Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing | 1280 | |
| EPO | Filing, Examination | 5123 | |
| Japan | Filing | 594 | |
| South Korea | Filing | 575 | |
| USA | Filing, Examination | 2710 |
Total: 10282 USD
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Abstract[English]
A mass spectrometer that includes a mass filter and a TOF mass analyzer receives the ion beam from an ion source device that ionizes a compound of a sample. The mass filter selects a precursor ion mass range and the mass analyzer mass analyzes the mass range. A continuous flow of selected precursor ions is maintained between the mass filter and the mass analyzer. A first set of parameters is applied to the mass spectrometer to produce a resolution above a first resolution threshold. A space charge effect is detected by determining if the measured TIC exceeds a TIC threshold or the measured resolution is less than the first resolution threshold. If a space charge effect is detected, at least one precursor ion transmission window with a width smaller than the mass range is applied to the ion beam by the mass filter and mass analyzed to reduce the space charge.[French]
Un spectromètre de masse qui comprend un filtre de masse et un analyseur de masse TOF reçoit le faisceau d'ions d'un dispositif source d'ions qui ionise un composé d'un échantillon. Le filtre de masse sélectionne une plage de masse d'ions précurseurs et l'analyseur de masse analyse en masse la plage de masse. Un flux continu des ions précurseurs sélectionnés est maintenu entre le filtre de masse et l'analyseur de masse. Un premier ensemble de paramètres est appliqué au spectromètre de masse pour produire une résolution supérieure à un premier seuil de résolution. Un effet de charge d'espace est détecté en déterminant si le TIC mesuré dépasse un seuil TIC ou que la résolution mesurée est inférieure au premier seuil de résolution. Si un effet de charge d'espace est détecté, au moins une fenêtre de transmission d'ions précurseurs ayant une largeur inférieure à la plage de masse est appliquée au faisceau d'ions par le filtre de masse et une masse analysée pour réduire la charge d'espace.