WO2022167868 - A LAYERED SEMICONDUCTOR DEVICE WITH A PATTERNING COATING COMPRISING A HOST AND A DOPANT

National phase entry:
Publication Number WO/2022/167868
Publication Date 11.08.2022
International Application No. PCT/IB2022/000066
International Filing Date 08.02.2022
Title **
[English] A LAYERED SEMICONDUCTOR DEVICE WITH A PATTERNING COATING COMPRISING A HOST AND A DOPANT
[French] DISPOSITIF SEMI-CONDUCTEUR EN COUCHES COMPRENANT UN REVÊTEMENT DE FORMATION DE MOTIF COMPRENANT UN HÔTE ET UN DOPANT
Applicants **
OTI LUMIONICS INC. 3415 American Drive Mississauga, ON L4V 1T4, CA
Inventors
HELANDER, Michael 298 Jarvis Street, Suite 904 Toronto, ON M5B 2M4, CA
WANG, Zhibin 44 St. Joseph Street, Unit #1102 Toronto, ON M4Y 2W4, CA
CHANG, Yi-lu 11 Wharton Square Scarborough, ON M1V 4M8, CA
WANG, Qi 880 Grandview Way, Unit #709 North York, ON M2N 7B2, CA
GENIN, Scott, Nicholas 31 Ritter Crescent Unionville, ON L3R 4K4, CA
Priority Data
63/289,599   14.12.2021   US
63/158,185   08.03.2021   US
63/146,970   08.02.2021   US
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Application details
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Number of Pages with Drawings *
Pages of Specification *
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International Searching Authority
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Entry into National Phase under
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Quotation for National Phase entry

Country StagesTotal
China Filing7922
EPO Filing, Examination88902
Japan Filing594
South Korea Filing640
USA Filing, Examination27860
MasterCard Visa

Total: 125918

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Abstract[English] A layered semiconductor device comprising a patterning coating deposited on an exposed layer surface of an underlying layer in a first portion of a lateral aspect is adapted to impact a propensity of a vapor flux of a deposited material to be condensed thereon, the patterning coating comprising a first and a second material exhibiting a respective first and second at least one material property. The patterning coating exhibits a third at least one material property that is different from at least one of the first and second at least one material property in terms of at least one of: a combination and a value thereof. The third at least one material property differentiates the exposed layer surface of the underlying layer from the exposed layer surface of the patterning coating.[French] L'invention concerne un dispositif à semi-conducteur en couches comprenant un revêtement de formation de motif déposé sur une surface de couche exposée d'une couche sous-jacente dans une première partie d'un aspect latéral qui est apte à impacter une propension d'un flux de vapeur d'un matériau déposé à condenser sur ce dernier, le revêtement de formation de motif comprenant un premier matériau et un second matériau présentant une première et une deuxième au moins une propriété respective de matériau. Le revêtement de formation de motif présente une troisième au moins une propriété de matériau qui est différente de la première et/ou de la deuxième au moins une propriété de matériau en termes d'au moins une composante entre : leur combinaison et leur valeur. La troisième au moins une propriété de matériau différencie la surface de couche exposée de la couche sous-jacente de la surface de couche exposée du revêtement de formation de motif.
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