WO2025003638 - BOSON SAMPLER PARAMETER CONFIGURATION
National phase entry is expected:
Publication Number
WO/2025/003638
Publication Date
02.01.2025
International Application No.
PCT/GB2024/051598
International Filing Date
24.06.2024
Title **
[English]
BOSON SAMPLER PARAMETER CONFIGURATION
[French]
CONFIGURATION DE PARAMÈTRE D'ÉCHANTILLONNEUR DE BOSONS
Applicants **
ORCA COMPUTING LIMITED
30 Eastbourne Terrace
London W2 6LA, GB
Inventors
MARTIN, Alex
ORCA Computing Limited
30 Eastbourne Terrace
London W2 6LA, GB
WALLNER, Hugo
ORCA Computing Limited
30 Eastbourne Terrace
London W2 6LA, GB
CLEMENTS, William
ORCA Computing Limited
30 Eastbourne Terrace
London W2 6LA, GB
Priority Data
2309657.1
27.06.2023
GB
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
| Number of Independent Claims | * |
| Number of Priorities | * |
| Number of Multi-Dependent Claims | * |
| Number of Drawings | * |
| Pages for Publication | * |
| Number of Pages with Drawings | * |
| Pages of Specification | * |
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International Searching Authority |
EPO
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| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
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| Entry into National Phase under |
Chapter I
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| Translation |
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Recalculate
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Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing | 1374 | |
| EPO | Filing, Examination | 7499 | |
| Japan | Filing | 597 | |
| South Korea | Filing | 575 | |
| USA | Filing, Examination | 4510 |
Total: 14555 USD
The term for entry into the National Phase has expired. This quotation is for informational purposes only
Abstract[English]
Methods, systems, and computer-readable media are provided for configuring a boson sampler. The method includes operating the boson sampler to produce a batch of samples. The method further includes determining, from the batch of samples, an estimate of a partial derivative of an objective function. The method further includes configuring the parameter of the boson sampler based on the determined estimate. Determining the estimate includes: determining from the batch of samples, for each observable of a set of observables, a corresponding first value representative of a partial derivative of the objective function with respect to the expectation value of the observable; determining, for each observable of the set of observables, a corresponding second value representative of a partial derivative of the expectation value of the observable with respect to a parame ter value of the configurable parameter; and determining the estimate from the first values and the second values.[French]
L'invention concerne des procédés, des systèmes et des supports lisibles par ordinateur pour configurer un échantillonneur de bosons. Le procédé consiste à faire fonctionner l'échantillonneur de bosons pour produire un lot d'échantillons. Le procédé consiste en outre à déterminer, à partir du lot d'échantillons, une estimation d'une dérivée partielle d'une fonction objectif. Le procédé consiste en outre à configurer le paramètre de l'échantillonneur de bosons sur la base de l'estimation déterminée. La détermination de l'estimation comprend : la détermination, à partir du lot d'échantillons, pour chaque observable d'un ensemble d'observables, d'une première valeur correspondante représentative d'une dérivée partielle de la fonction objectif par rapport à la valeur attendue de l'observable ; la détermination, pour chaque observable de l'ensemble d'observables, d'une seconde valeur correspondante représentative d'une dérivée partielle de la valeur d'espérance de l'observable par rapport à une valeur de paramètre du paramètre configurable ; et la détermination de l'estimation à partir des premières valeurs et des secondes valeurs.