WO2026052316 - VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM AUSWERTEN EINES VON EINEM SPINBASIERTEN QUANTENSYSTEM AUSGEHENDEN MESSSIGNALS

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Publication Number WO/2026/052316
Publication Date 12.03.2026
International Application No. PCT/EP2025/072589
International Filing Date 06.08.2025
Title **
[German] VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM AUSWERTEN EINES VON EINEM SPINBASIERTEN QUANTENSYSTEM AUSGEHENDEN MESSSIGNALS
[English] METHOD AND APPARATUS FOR ANALYSING A MEASUREMENT SIGNAL EMITTED BY A SPIN-BASED QUANTUM SYSTEM
[French] PROCÉDÉ ET APPAREIL D'ANALYSE D'UN SIGNAL DE MESURE ÉMIS PAR UN SYSTÈME QUANTIQUE BASÉ SUR LE SPIN
Applicants **
ROBERT BOSCH GMBH
Inventors
DOLDE, Florian
Priority Data
102024208332.1   03.09.2024   DE
Application details
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China Filing, Examination, Granting1882
EPO Filing, Examination, Granting8107
Japan Filing, Examination, Granting2000
South Korea Filing, Examination, Granting1754
USA Filing, Examination, Granting4740
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Abstract[German] Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Auswerten eines von einem spinbasierten Quantensystem (4) ausgehenden Messsignals (5'), umfassend ein Anregen des spinbasierten Quantensystems (4) durch ein gepulstes Anregungslicht (13; 220), ein abwechselndes Aussetzen des spinbasierten Quantensystems (4) einer ersten und einer zweiten Magnetfeldpulsfolge (211; 212), wobei eine der ersten und zweiten Magnetfeldpulsfolge (211; 212) zwei -Pulse enthält, und die andere der ersten und zweiten Magnetfeldpulsfolge (211; 212) einen -Puls und einen - -Puls enthält, ein Erfassen des von dem spinbasierten Quantensystem (4) ausgehenden Messsignals (5'), ein Integrieren des Messsignals (5') über ein Integrationsfenster (231) enthaltend einen Signalzeitpunkt eines Lichtpulses (222) des gepulsten Anregungslichts (13; 320) zwischen der ersten Magnetfeldpulsfolge (211) und der zweiten Magnetfeldpulsfolge (212) und zwischen der zweiten Magnetfeldpulsfolge (212) und der ersten Magnetfeldpulsfolge (211), um einen ersten und einen zweiten Signalwert zu erhalten, und ein Bestimmen eines Messwerts aus dem ersten und dem zweiten Signalwert.[English] The invention relates to a method and an apparatus for evaluating a measurement signal (5') emitted by a spin-based quantum system (4), comprising: exciting the spin-based quantum system (4) by means of pulsed excitation light (13; 220); alternately subjecting the spin-based quantum system (4) to a first and a second magnetic field pulse sequence (211; 212), wherein one of the first and second magnetic field pulse sequences (211; 212) comprises two π-pulses, and the other of the first and second magnetic field pulse sequences (211; 212) comprises one π-pulse and one π/2-pulse; detecting the measurement signal (5') emitted by the spin-based quantum system (4); integrating the measurement signal (5') over an integration window (231) which includes a signal time of a light pulse (222) of the pulsed excitation light (13; 320) between the first magnetic field pulse sequence (211) and the second magnetic field pulse sequence (212) and between the second magnetic field pulse sequence (212) and the first magnetic field pulse sequence (211), in order to obtain a first and a second signal value; and determining a measurement value from the first and the second signal value.[French] L'invention concerne un procédé et un appareil d'évaluation d'un signal de mesure (5') émis par un système quantique basé sur le spin (4), consistant à : exciter le système quantique basé sur le spin (4) au moyen d'une lumière d'excitation pulsée (13 ; 220) ; soumettre alternativement le système quantique basé sur le spin (4) à une première et à une seconde séquence d'impulsions de champ magnétique (211 ; 212), l'une des première et seconde séquences d'impulsions de champ magnétique (211 ; 212) comprenant deux impulsions π, et l'autre des première et seconde séquences d'impulsions de champ magnétique (211 ; 212) comprenant une impulsion π et une impulsion π/2 ; détecter le signal de mesure (5') émis par le système quantique basé sur le spin (4) ; intégrer le signal de mesure (5') sur une fenêtre d'intégration (231) qui comprend un temps de signal d'une impulsion lumineuse (222) de la lumière d'excitation pulsée (13 ; 320) entre la première séquence d'impulsions de champ magnétique (211) et la seconde séquence d'impulsions de champ magnétique (212) et entre la seconde séquence d'impulsions de champ magnétique (212) et la première séquence d'impulsions de champ magnétique (211), afin d'obtenir une première et une seconde valeur de signal ; et déterminer une valeur de mesure à partir de la première et de la seconde valeur de signal.