WO2025180993 - VERFAHREN ZUM BESTIMMEN VON STREULICHTARTEFAKTEN EINER OPTISCHEN EINRICHTUNG UND MESSVORRICHTUNG
National phase entry is expected:
Publication Number
WO/2025/180993
Publication Date
04.09.2025
International Application No.
PCT/EP2025/054806
International Filing Date
21.02.2025
Title **
[German]
VERFAHREN ZUM BESTIMMEN VON STREULICHTARTEFAKTEN EINER OPTISCHEN EINRICHTUNG UND MESSVORRICHTUNG
[English]
METHOD FOR DETERMINING STRAY LIGHT ARTIFACTS OF AN OPTICAL DEVICE AND MEASURING APPARATUS
[French]
PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'ARTEFACTS DE LUMIÈRE PARASITE D'UN DISPOSITIF OPTIQUE ET APPAREIL DE MESURE
Applicants **
ROBERT BOSCH GMBH
Inventors
KICK, Moritz
GYAMFI, Mark
Priority Data
102024201968.2
01.03.2024
DE
Application details
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EPO
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Change of Applicant's Name and Address
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The Standard Agent's Assignment
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| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
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Chapter I
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Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing, Examination, Granting | 1938 | |
| EPO | Filing, Examination, Granting | 8126 | |
| Japan | Filing, Examination, Granting | 2062 | |
| South Korea | Filing, Examination, Granting | 1883 | |
| USA | Filing, Examination, Granting | 5940 |
Total:
19,949
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Abstract[German]
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen von Streulichtartefakten einer optischen Einrichtung (102), wobei das Verfahren unter Verwendung einer Messvorrichtung (100) ausführbar ist, wobei das Verfahren einen Schritt des Ausgebens von Licht (106) von einer Lichtquelle (104) durch ein diffraktives optisches Element (108) hindurch zu der optischen Einrichtung (102) umfasst, wobei das diffraktive optische Element (108) zwischen der Lichtquelle (104) und der optischen Einrichtung (108) angeordnet ist, um das Licht (106) in eine Mehrzahl von Teilstrahlen (110) zu beugen, denen jeweils eine Beugungsordnung zugeordnet ist, sowie einen Schritt des Einlesens von Bilddaten über eine Schnittstelle von der optischen Einrichtung (102), wobei die Bilddaten mittels der optischen Einrichtung (102) erfasste Teilstrahlen der Mehrzahl von Teilstrahlen (110) repräsentieren, wobei die erfassten Teilstrahlen durch Projektion auf eine Bildebene ein projiziertes Beugungsmuster (114) bilden, und einen Schritt des Auswertens des projizierten Beugungsmusters (114) unter Verwendung eines Referenzbeugungsmusters, um die Streulichtartefakte zu bestimmen.[English]
The invention relates to a method for determining stray light artifacts of an optical device (102), wherein the method can be carried out using a measuring apparatus (100), wherein the method comprises a step of outputting light (106) from a light source (104) through a diffractive optical element (108) to the optical device (102), wherein the diffractive optical element (108) is arranged between the light source (104) and the optical device (108) in order to diffract the light (106) into a plurality of partial beams (110), each of which is assigned an order of diffraction, and a step of reading in image data from the optical device (102) via an interface, wherein the image data represent partial beams of the plurality of partial beams (110) that have been captured by means of the optical device (102), wherein the captured partial beams form a projected diffraction pattern (114) by projection onto an image plane, and a step of evaluating the projected diffraction pattern (114) using a reference diffraction pattern in order to determine the stray light artifacts.[French]
L'invention concerne un procédé de détermination d'artefacts de lumière parasite d'un dispositif optique (102), le procédé pouvant être mis en œuvre à l'aide d'un appareil de mesure (100), le procédé comprenant une étape consistant à délivrer en sortie de la lumière (106) à partir d'une source de lumière (104) à travers un élément optique diffractif (108) vers le dispositif optique (102), l'élément optique diffractif (108) étant disposé entre la source de lumière (104) et le dispositif optique (108) afin de diffracter la lumière (106) en une pluralité de faisceaux partiels (110), chacun desquels étant attribué à un ordre de diffraction, et une étape de lecture dans des données d'image provenant du dispositif optique (102) par l'intermédiaire d'une interface, les données d'image représentant des faisceaux partiels de la pluralité de faisceaux partiels (110) qui ont été capturés au moyen du dispositif optique (102), les faisceaux partiels capturés formant un motif de diffraction projeté (114) par projection sur un plan d'image, et une étape d'évaluation du motif de diffraction projeté (114) à l'aide d'un motif de diffraction de référence afin de déterminer les artefacts de lumière parasite.