IP-Coster | WO2025003030 | VERFAHREN ZUR ÜBERWACHUNG UND KALIBRIERUNG VON OPTISCHEN KOMPONENTEN IN DER FERTIGUNG VON BATTERIEZELLEN

Country	Stages	Total
China	Filing	1279
EPO	Filing, Examination	6569
Japan	Filing	590
South Korea	Filing	575
USA	Filing, Examination	2910

Abstract[German] Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Überwachung und Kalibrierung eines optischen Systems, insbesondere eines Lasersystems (10), bei der Verarbeitung eines Bahnmaterials (22), welches mit einer Vorschubgeschwindigkeit in eine Vorschubrichtung (24) gefördert wird. Gemäß Verfahrensschritt a) wird ein Teilbahnabschnitt (44-49) durch Ausführung mindestens eines Notching-Einschnitts (66) erzeugt. Gemäß Verfahrensschritt b) wird mindestens ein mit dem mindestens einen Notching-Einschnitt (66) hergestellter Teilbahnabschnitt (44-49) als Kalibrierfläche (76, 78, 80) genutzt. Es erfolgt gemäß Verfahrensschritt c) ein Anbringen von Kalibriermarken (60, 62) auf die gemäß Verfahrensschritt b) hergestellten Teilbahnabschnitte (44-49) durch Ablenkeinheiten (16, 18, 20), derart, dass gemäß Verfahrensschritt d) die Kalibriermarken (60, 62) eine Erfassung etwaiger translatorischer oder rotatorischer Abweichungen oder Skalierungsabweichungen zwischen den Ablenkeinheiten (16, 18, 20) ermöglicht.[English] The invention relates to a method for monitoring and calibrating an optical system, in particular a laser system (10), during the processing of a web material (22) which is conveyed at an advancing speed in an advancing direction (24). According to method step a), a part web portion (44-49) is produced by performing at least one notching cut (66). According to method step b), at least one part web portion (44-49) which is produced with the at least one notching cut (66) is used as calibration surface (76, 78, 80). According to method step c), calibration marks (60, 62) are applied to the part web portions (44, 49), which are produced according to method step b), by way of deflection units (16, 18, 20) in such a way that, according to method step d), the calibration marks (60, 62) make it possible to detect any translational or rotational deviations or scaling deviations between the deflection units (16, 18, 20).[French] L'invention concerne un procédé de surveillance et d'étalonnage d'un système optique, en particulier un système laser (10), pendant le traitement d'un matériau en bande (22) qui est transporté à une vitesse d'avance dans une direction d'avance (24). Selon l'étape de procédé a), une portion de bande de pièce (44-49) est produite en réalisant au moins une découpe d'entaillage (66). Selon l'étape de procédé b), au moins une portion de bande de pièce (44-49) qui est produite avec la ou les découpes d'entaillage (66) est utilisée en tant que surface d'étalonnage (76, 78, 80). Selon l'étape de procédé c), des marques d'étalonnage (60, 62) sont appliquées aux portions de bande de pièce (44, 49), qui sont produites selon l'étape de procédé b), au moyen d'unités de déviation (16, 18, 20) de sorte que, selon l'étape de procédé d), les marques d'étalonnage (60, 62) permettent de détecter tout écart de translation ou rotation ou écart de mise à l'échelle entre les unités de déviation (16, 18, 20).

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Small Entity	*
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Small Entity, USA	*
Micro Entity, USA	*
Entry into National Phase under	Chapter I *
Translation

WO2025003030 - VERFAHREN ZUR ÜBERWACHUNG UND KALIBRIERUNG VON OPTISCHEN KOMPONENTEN IN DER FERTIGUNG VON BATTERIEZELLEN

Quotation for National Phase entry