WO2024194179 - VERFAHREN, MINFLUX-MIKROSKOP UND COMPUTERPROGRAMM FÜR DIE LOKALISIERUNG ODER FÜR DAS VERFOLGEN VON EMITTERN
National phase entry is expected:
Publication Number
WO/2024/194179
Publication Date
26.09.2024
International Application No.
PCT/EP2024/056943
International Filing Date
15.03.2024
Title **
[German]
VERFAHREN, MINFLUX-MIKROSKOP UND COMPUTERPROGRAMM FÜR DIE LOKALISIERUNG ODER FÜR DAS VERFOLGEN VON EMITTERN
[English]
METHOD, MINFLUX MICROSCOPE AND COMPUTER PROGRAM FOR LOCATING OR TRACKING EMITTERS
[French]
PROCÉDÉ, MICROSCOPE MINFLUX ET PROGRAMME INFORMATIQUE POUR LOCALISER OU SUIVRE DES ÉMETTEURS
Applicants **
ABBERIOR INSTRUMENTS GMBH
Hans-Adolf-Krebs-Weg 6
37077 Göttingen, DE
Inventors
REUSS, Matthias
Walkemühlenweg 15
37083 Göttingen, DE
SCHMIDT, Roman
Karl-Grüneklee-Straße 61
37077 Göttingen, DE
WILLEMER, Winfried
Hinter dem Lohberge 5b
37120 Bovenden, DE
DONNERT, Gerald
Walkemühlenweg 23
37083 Göttingen, DE
Priority Data
23163585.5
22.03.2023
EP
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
| Number of Independent Claims | * |
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| Number of Drawings | * |
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International Searching Authority |
EPO
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Chapter I
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Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing | 1379 | |
| EPO | Filing, Examination | 5714 | |
| Japan | Filing | 538 | |
| South Korea | Filing | 575 | |
| USA | Filing, Examination | 2635 |
Total: 10841 USD
The term for entry into the National Phase has expired. This quotation is for informational purposes only
Abstract[German]
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und ein MINFLUX-Mikroskop (1) für die Lokalisierung oder für das Verfolgen eines Emitters (E), wobei die Probe (2) in einem Nahbereich (22) des Emitters (E) durch einen Beleuchtungslichtstrahl (B) mit einer Intensitätsverteilung von Beleuchtungslicht beleuchtet wird, die ein zentrales Minimum aufweist, wobei die Intensitätsverteilung in einem Messzyklus mittels eines Strahlscanners (6) mit mindestens einer optischen Komponente (61,62,63,64) an Abtastpositionen (21) verlagert wird, und wobei zu den Abtastposi- tionen (21) Emissionen des Emitters (E) erfasst und den Abtastpositionen (21) zugeordnet werden, wobei der Strahlscanner (6) mit Ansteuersignalen gesteuert wird, die Ansteuersignale und/oder Sollbewegungen der mindestens einen optischen Komponente (61,62,63,64) als Funktion der Zeit jeweils durch eine Sinusfunktion oder durch eine gewichtete Summe von Sinusfunktionen mit endlich vielen Summanden beschrieben werden können.[English]
The invention relates to a method and a MINFLUX microscope (1) for locating or tracking an emitter (E), wherein the sample (2) is illuminated in close range (22) of the emitter (E) by an illumination light beam (B) with an intensity distribution of illumination light which has a central minimum, wherein during a measurement cycle, the intensity distribution is shifted by a beam scanner (6) comprising at least one optical component (61, 62, 63, 64) to scanning positions (21), and wherein emissions of the emitter (E) are sensed for the scanning positions (21) and allocated to the scanning positions (21), wherein the beam scanner (6) is controlled with control signals, the control signals and/or desired movements of the at least one optical component (61, 62, 63, 64) can be defined as a function of time in each case via a sine function or via a weighted total of sine functions with a finite number of summands.[French]
L'invention concerne un procédé et un microscope MINFLUX (1) pour localiser ou suivre un émetteur (E), l'échantillon (2) étant éclairé dans une plage étroite (22) de l'émetteur (E) par un faisceau de lumière d'éclairage (B) avec une distribution d'intensité de lumière d'éclairage qui a un minimum central, pendant un cycle de mesure, la distribution d'intensité étant décalée par un dispositif de balayage de faisceau (6) comprenant au moins un composant optique (61, 62, 63, 64) vers des positions de balayage (21), et les émissions de l'émetteur (E) étant détectées pour les positions de balayage (21) et attribuées aux positions de balayage (21), le dispositif de balayage de faisceau (6) étant commandé avec des signaux de commande, les signaux de commande et/ou les mouvements souhaités du ou des composants optiques (61, 62, 63, 64) pouvant être définis en fonction du temps dans chaque cas par l'intermédiaire d'une fonction sinusoïdale ou par l'intermédiaire d'un total pondéré de fonctions sinusoïdales avec un nombre fini de sommations.