WO2023144046 - MULTI-DEGREE-OF-FREEDOM IMPEDANCE FIXTURE FOR AUTOMATED FREQUENCY RESPONSE FUNCTION MEASUREMENTS

National phase entry:
Publication Number WO/2023/144046
Publication Date 03.08.2023
International Application No. PCT/EP2023/051423
International Filing Date 20.01.2023
Title **
[English] MULTI-DEGREE-OF-FREEDOM IMPEDANCE FIXTURE FOR AUTOMATED FREQUENCY RESPONSE FUNCTION MEASUREMENTS
[French] MONTAGE D'IMPÉDANCE À PLUSIEURS DEGRÉS DE LIBERTÉ POUR MESURES AUTOMATISÉES DE FONCTION DE RÉPONSE EN FRÉQUENCE
Applicants **
ROBERT BOSCH GMBH Postfach 30 02 20 70442 Stuttgart, DE
Inventors
STURM, Michael 1120 N. Garner Road Milford, MI, Michigan 48380, US
WIENEN, Kevin 35919 Woodridge Circle, Apt. 34304 Farmington Hills, MI, Michigan 48335, US
YANKONIS, Michael 8037 Lakeshore Road Whitmore Lake, MI, Michigan 48189, US
Priority Data
17/583,923   25.01.2022   US
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Application details
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Number of Pages with Drawings *
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Quotation for National Phase entry

Country StagesTotal
China Filing1235
EPO Filing, Examination5407
Japan Filing587
South Korea Filing574
USA Filing, Examination2710
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Abstract[English] System and methods for characterizing a response of a structure-under-test to applied excitation forces using a test fixture. The fixture is selectively coupleable to the structure-under-test and is configured to hold the structure-under-test at a known position and in a known orientation relative to the fixture. A plurality of excitation devices and response sensors are coupled to the fixture. Excitation forces applied to the fixture by the excitation devices are conveyed by the fixture to the structure-under-test and each response sensor measures a dynamic response indicative of a response of the structure-under-test and the fixture to the applied excitation force. A controller receives response sensor data and applies a mathematical coordinate transformation to project the forces and moments corresponding to the applied excitation and the measured dynamic responses to a target point of the structure-under-test and to calculate a system response function based at least in part on the projection.[French] L'invention concerne un système et des procédés permettant de caractériser la réponse d'une structure testée à des forces d'excitation appliquées à l'aide d'un montage de test. Le montage est sélectivement couplé à la structure sous test et est configuré pour maintenir la structure sous test à une position connue et dans une orientation connue par rapport au montage. Plusieurs dispositifs d'excitation et de capteurs de réponse sont couplés au montage. Les forces d'excitation appliquées au montage par les dispositifs d'excitation sont transmises par le montage à la structure testée et chaque capteur de réponse mesure une réponse dynamique indiquant une réponse de la structure testée et du montage à la force d'excitation appliquée. Un dispositif de commande reçoit les données du capteur de réponse et applique une transformation mathématique des coordonnées pour projeter les forces et les instants correspondant à l'excitation appliquée et aux réponses dynamiques mesurées vers un point cible de la structure testée et pour calculer une fonction de réponse du système sur la base, au moins en partie, de la projection.
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