WO2023206231 - SCAN CIRCUIT, DISPLAY APPARATUS, AND METHOD OF OPERATING SCAN CIRCUIT
National phase entry:
Publication Number
WO/2023/206231
Publication Date
02.11.2023
International Application No.
PCT/CN2022/089890
International Filing Date
28.04.2022
Title **
[English]
SCAN CIRCUIT, DISPLAY APPARATUS, AND METHOD OF OPERATING SCAN CIRCUIT
[French]
CIRCUIT DE BALAYAGE, APPAREIL D'AFFICHAGE ET PROCÉDÉ DE FONCTIONNEMENT DE CIRCUIT DE BALAYAGE
Applicants **
BOE TECHNOLOGY GROUP CO., LTD.
No.10 Jiuxianqiao Rd., Chaoyang District
Beijing 100015, CN
Inventors
LIU, Weixing
No.9 Dize Rd., BDA
Beijing 100176, CN
TENG, Wanpeng
No.9 Dize Rd., BDA
Beijing 100176, CN
ZHANG, Chunfang
No.9 Dize Rd., BDA
Beijing 100176, CN
XU, Zhiqiang
No.9 Dize Rd., BDA
Beijing 100176, CN
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
| Number of Independent Claims | * |
| Number of Priorities | * |
| Number of Multi-Dependent Claims | * |
| Number of Drawings | * |
| Pages for Publication | * |
| Number of Pages with Drawings | * |
| Pages of Specification | * |
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International Searching Authority |
CNIPA
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| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
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| Entry into National Phase under |
Chapter I
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| Translation |
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Recalculate
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Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing | 1734 | |
| EPO | Filing, Examination | 10328 | |
| Japan | Filing | 594 | |
| South Korea | Filing | 482 | |
| USA | Filing, Examination | 3310 |
Total: 16448 USD
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Abstract[English]
A scan circuit is provided. The scan circuit includes a plurality of scan units in a plurality of stages, respectively. A respective scan unit of the plurality of scan units includes an output subcircuit. The output subcircuit includes a first switch transistor and a second switch transistor. A source electrode of the first switch transistor is coupled to a third terminal configured to receive a first clock signal. A drain electrode of the first switch transistor is coupled to a first output terminal configured to output a first control signal. A source electrode of the second switch transistor is coupled to a fourth terminal configured to receive the third clock signal. A drain electrode of the second switch transistor is coupled to a second output terminal configured to output a second control signal. Gate electrodes of the first switch transistor and the second switch transistor are coupled to a first node.[French]
L'invention concerne un circuit de balayage. Le circuit de balayage comprend une pluralité d'unités de balayage respectivement situées dans une pluralité d'étages. Une unité de balayage respective de la pluralité d'unités de balayage comprend un sous-circuit de sortie. Le sous-circuit de sortie comprend un premier transistor de commutation et un deuxième transistor de commutation. Une électrode de source du premier transistor de commutation est couplée à une troisième borne conçue pour recevoir un premier signal d'horloge. Une électrode de drain du premier transistor de commutation est couplée à une première borne de sortie conçue pour émettre un premier signal de commande. Une électrode de source du deuxième transistor de commutation est couplée à une quatrième borne conçue pour recevoir le troisième signal d'horloge. Une électrode de drain du deuxième transistor de commutation est couplée à une deuxième borne de sortie conçue pour émettre un deuxième signal de commande. Des électrodes de grille du premier transistor de commutation et du deuxième transistor de commutation sont couplées à un premier nœud.