WO2023178525 - APPARATUS AND METHOD FOR TRACKING OF EXTENDED OBJECTS
National phase entry:
Publication Number
WO/2023/178525
Publication Date
28.09.2023
International Application No.
PCT/CN2022/082321
International Filing Date
22.03.2022
Title **
[English]
APPARATUS AND METHOD FOR TRACKING OF EXTENDED OBJECTS
[French]
APPAREIL ET PROCÉDÉ DE SUIVI D'OBJETS ÉTENDUS
Applicants **
HUAWEI TECHNOLOGIES CO.,LTD.
Huawei Administration Building, Bantian, Longgang District
Shenzhen, Guangdong 518129, CN
Inventors
BAUM, Marcus
University of Goettingen (UGOE)
Wilhelmsplatz 1
37073 G, DE
THORMANN, Kolja
University of Goettingen (UGOE)
Wilhelmsplatz 1
37073 G, DE
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
| Number of Independent Claims | * |
| Number of Priorities | * |
| Number of Multi-Dependent Claims | * |
| Number of Drawings | * |
| Pages for Publication | * |
| Number of Pages with Drawings | * |
| Pages of Specification | * |
| * | |
| * | |
International Searching Authority |
CNIPA
* |
| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
* |
| * | |
| * | |
| * | |
| * | |
| Entry into National Phase under |
Chapter I
* |
| Translation |
|
Recalculate
* The data is based on automatic recognition. Please verify and amend if necessary.
** IP-Coster compiles data from publicly available sources. If this data includes your personal information, you can contact us to request its removal.
Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing | 957 | |
| EPO | Filing, Examination | 7060 | |
| Japan | Filing | 591 | |
| South Korea | Filing | 482 | |
| USA | Filing, Examination | 3910 |

Total: 13000 USD
The term for entry into the National Phase has expired. This quotation is for informational purposes only
Abstract[English]
An apparatus (100) and method (600) for tracking one or more extended objects (110a-c) are disclosed. The apparatus (100) comprises at least one sensor (107) configured to perform a plurality of measurements of the one or more extended objects (110a-c) for obtaining a point cloud of measurement points (601). Moreover, the apparatus (100) comprises a processing circuitry (101) configured to determine for each measurement point of the point cloud and each object of the one or more extended objects (110a-c) a respective marginal association probability, MAP, value of the respective measurement point for being associated with the respective object (603). Furthermore, the processing circuitry (101) is configured to define for each object of the one or more objects (110a-c) a respective subset of the point cloud of measurement points based on the plurality of MAP values (605) and to assign one or more measurement points of the subset of the point cloud to the respective object of the one or more extended objects (110a-c) (607).[French]
Un appareil (100) et un procédé (600) pour suivre un ou plusieurs objets étendus (110a-c) sont divulgués. L'appareil (100) comprend au moins un capteur (107) configuré pour effectuer une pluralité de mesures du ou des objets étendus (110a-c) pour obtenir un nuage de points de points de mesure (601). De plus, l'appareil (100) comprend un ensemble circuit de traitement (101) configuré pour déterminer pour chaque point de mesure du nuage de points et chaque objet du ou des objets étendus (110a-c) une valeur de la probabilité d'association marginale respective, MAP, du point de mesure respectif pour être associée à l'objet respectif (603). En outre, l'ensemble circuit de traitement (101) est configuré pour définir pour chaque objet du ou des objets (110a-c) un sous-ensemble respectif du nuage de points de points de mesure sur la base de la pluralité de valeurs MAP (605) et pour attribuer un ou plusieurs points de mesure du sous-ensemble du nuage de points à l'objet respectif du ou des objets étendus (110a-c) (607).