WO2023137680 - IMAGING DEVICE ARRAY

National phase entry:
Publication Number WO/2023/137680
Publication Date 27.07.2023
International Application No. PCT/CN2022/073077
International Filing Date 21.01.2022
Title **
[English] IMAGING DEVICE ARRAY
[French] RÉSEAU DE DISPOSITIFS D'IMAGERIE
Applicants **
HUAWEI TECHNOLOGIES CO.,LTD. Huawei Administration Building, Bantian, Longgang District Shenzhen, Guangdong 518129, CN
Inventors
TAKAHASHI, Seiji 19F, Concurred-Yokohama, 3-1, Kinko-cho ku,Yokohama, Kanagawa 221-0056, JP
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Application details
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Quotation for National Phase entry

Country StagesTotal
China Filing1238
EPO Filing, Examination7471
Japan Filing595
South Korea Filing482
USA Filing, Examination4510
MasterCard Visa

Total: 14296

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Abstract[English] Provided is a solid-state imaging device array (100) comprising a plurality of solid-state imaging devices (102-1 to 102-4) arranged in an array, each solid-state imaging device (102-1 to 102-4) comprising: one or more photodiode groups(110); one or more device lines (120, 122) disposed along at least one side of the photodiode groups (110), each comprising gates and doped regions aligned in line; and device power sources (124, 126, 128), each being disposed at a point at which each end of the device lines (120, 122) and each end of device lines (120, 122) of an adjacent solid-state imaging device (102-1 to 102-4), wherein the gates and the doped regions are configured as transistor devices for operating the solid-state imaging device (102-1 to 102-4), and wherein the device power sources (124, 126, 128) are disposed at four apexes of a border of the solid-state imaging device (102-1 to 102-4).[French] L'invention concerne un réseau de dispositifs d'imagerie à semi-conducteurs (100) comprenant une pluralité de dispositifs d'imagerie à semi-conducteurs (102-1 à 102-4) agencés en un réseau, chaque dispositif d'imagerie à semi-conducteurs (102-1 à 102-4) comprenant : un ou plusieurs groupes de photodiodes (110); une ou plusieurs lignes de dispositif (120, 122) disposées le long d'au moins un côté des groupes de photodiodes (110), comprenant chacune des grilles et des régions dopées alignées en ligne; et des sources d'alimentation de dispositif (124, 126, 128), chacune étant disposée à un point à chaque extrémité des lignes de dispositif (120, 122) et chaque extrémité de lignes de dispositif (120, 122) d'un dispositif d'imagerie à semi-conducteurs adjacent (102-1 à 102-4), les grilles et les régions dopées étant configurées en tant que dispositifs de transistor pour faire fonctionner le dispositif d'imagerie à semi-conducteurs (102-1 à 102-4), et les sources d'alimentation de dispositif (124, 126, 128) étant disposées au niveau de quatre sommets d'une bordure du dispositif d'imagerie à semi-conducteurs (102-1 à 102-4).
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