WO2024173879 - AUTOMATING PCIe 6.0 TX EQUALIZER CALIBRATION USING A MULTIVARIABLE APPROACH
National phase entry:
Publication Number
WO/2024/173879
Publication Date
22.08.2024
International Application No.
PCT/US2024/016283
International Filing Date
16.02.2024
Title **
[English]
AUTOMATING PCIe 6.0 TX EQUALIZER CALIBRATION USING A MULTIVARIABLE APPROACH
[French]
AUTOMATISATION D'ÉTALONNAGE D'ÉGALISEUR TX PCIE 6.0 À L'AIDE D'UNE APPROCHE MULTIVARIABLE
Applicants **
TEKTRONIX, INC.
Inventors
JHANWAR, Nitin
GUPTA, Sakshi
LAXMAN, Srevats, S.
Priority Data
202321010810
17.02.2023
IN
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
| Number of Independent Claims | * |
| Number of Priorities | * |
| Number of Multi-Dependent Claims | * |
| Number of Drawings | * |
| Pages for Publication | * |
| Number of Pages with Drawings | * |
| Pages of Specification | * |
| * | |
| Number of Office Actions | * |
| * | |
International Searching Authority |
MOIP
* |
| Recordal of a Change of the Applicant's Name/Address |
Change of Applicant's Name and Address
* |
| Type of Assignment |
The Standard Agent's Assignment
* |
| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
* |
| * | |
| * | |
| * | |
| * | |
| * | |
| Entry into National Phase under |
Chapter I
* |
| Patent Delivery |
Send the Letters Patent by Courier
* |
| 译文 |
|
* The data is based on automatic recognition. Please verify and amend if necessary.
** IP-Coster compiles data from publicly available sources. If this data includes your personal information, you can contact us to request its removal.
Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing, Examination, Granting | 2425 | |
| EPO | Filing, Examination, Granting | 16008 | |
| Japan | Filing, Examination, Granting | 2533 | |
| South Korea | Filing, Examination, Granting | 2100 | |
| USA | Filing, Examination, Granting | 6140 |

Total:
29,206
The term for entry into the National Phase has expired. This quotation is for informational purposes only
Contact Us
Abstract[English]
A receiver test and measurement system includes a signal generator to provide a stressed signal. The stressed signal needs to be calibrated as per specification for several parameters. Some parameters including a set of two or more equalization parameters can be calibrated by a test and measurement instrument that captures the stressed signal and executes a calibration operation. A multi-variable model is created establishing a relationship between parameters that are set in the signal generator and the measured values of these parameters in a test and measurement equipment like an oscilloscope. The multi-variable model calculates coefficients that allows us to calculate setting values that need to be set in the signal generator for any desired combination of two or more equalization parameters. This allows receiver tests to be done for any combination of desired equalization parameters in a calibrated manner.[French]
L'invention concerne un système de test et de mesure de récepteur qui comprend un générateur de signal pour fournir un signal contraint. Le signal contraint doit être étalonné comme par spécification pour plusieurs paramètres. Certains paramètres comprenant un ensemble d'au moins deux paramètres d'égalisation peuvent être étalonnés par un instrument de test et de mesure qui capture le signal contraint et qui exécute une opération d'étalonnage. Un modèle multivariable est créé établissant une relation entre des paramètres qui sont définis dans le générateur de signal, et les valeurs mesurées de ces paramètres dans un équipement de test et de mesure tel qu'un oscilloscope. Le modèle multivariable calcule des coefficients qui permettent de calculer des valeurs de réglage qui doivent être réglées dans le générateur de signal pour n'importe quelle combinaison souhaitée d'au moins deux paramètres d'égalisation. Ceci permet de réaliser des tests de récepteur pour n'importe quelle combinaison de paramètres d'égalisation souhaités d'une manière étalonnée.