WO2026139907 - SYSTEMS AND METHODS FOR HIGHLY-PARALLEL TESTING WITH THERMAL CONTROL

National phase entry is expected:
Publication Number WO/2026/139907
Publication Date 02.07.2026
International Application No. PCT/IB2025/063422
International Filing Date 23.12.2025
Title **
[English] SYSTEMS AND METHODS FOR HIGHLY-PARALLEL TESTING WITH THERMAL CONTROL
[French] SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE TEST HAUTEMENT PARALLÈLE AVEC RÉGULATION THERMIQUE
Applicants **
AEM SINGAPORE PTE. LTD.
Inventors
UEKERT, Kenneth B.
KABBANI, Samer
CONNACHER, Terry Sinclair
NESTOROVIC, Sasa
SUNG, Kijoo
VOZDOLSKY, Nikolay O.
ALEMAN, Enrique
Priority Data
63/738,701   24.12.2024   US
Application details
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Entry into National Phase under
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Patent Delivery
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译文

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Quotation for National Phase entry

Country StagesTotal
China Filing, Examination, Granting2972
EPO Filing, Examination, Granting19815
Japan Filing, Examination, Granting2594
South Korea Filing, Examination, Granting3038
USA Filing, Examination, Granting7790
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Total: 36,209
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Abstract[English] Disclosed herein is a test handler and corresponding test system for thermally controlling a plurality of devices under test (DUTs) by use of one or more thermal heads, while they are being tested in parallel. In some embodiments, a thermal head comprises a heat exchanger assembly, a piston block assembly, and a match plate assembly. In some embodiments, each individual DUT may have its temperature controlled independently by components, such as individual heaters, within the thermal head. The test handler may comprise a T-tray loading area, a temperature pre-soak area, a testing area, a temperature de-soak area, and a JEDEC tray loading area. In some embodiments the pick and place mechanism in the T-tray loading area may change the pitch or grid location of DUTs picked from a transport medium on the fly to a different pitch or location grid to match the socket placement on the tester load board.[French] L'invention divulgue un manipulateur de test et un système de test correspondant destinés à commander thermiquement une pluralité de dispositifs en cours de test (DUT) à l'aide d'une ou plusieurs têtes thermiques, pendant qu'ils sont testés en parallèle. Dans certains modes de réalisation, une tête thermique comprend un ensemble échangeur de chaleur, un ensemble bloc de piston et un ensemble plaque d'adaptation. Dans certains modes de réalisation, la température de chaque DUT individuel peut être régulée indépendamment par des composants, tels que des éléments chauffants individuels, à l'intérieur de la tête thermique. Le manipulateur de test peut comprendre une zone de chargement de plateau en T, une zone de pré-trempage de température, une zone de test, une zone de dé-trempage de température et une zone de chargement de plateau JEDEC. Dans certains modes de réalisation, le mécanisme de saisie et de placement dans la zone de chargement de plateau en T peut modifier le pas ou la grille de localisation des DUT prélevés sur un support de transport à la volée vers un pas différent ou une grille de localisation différente pour correspondre au placement de douille sur la carte de charge du testeur.