WO2025062288 - METHODS AND SYSTEMS FOR PERFORMING DATA INDEPENDENT ACQUISTION MASS SPECTROMETRY
National phase entry:
Publication Number
WO/2025/062288
Publication Date
27.03.2025
International Application No.
PCT/IB2024/059022
International Filing Date
17.09.2024
Title **
[English]
METHODS AND SYSTEMS FOR PERFORMING DATA INDEPENDENT ACQUISTION MASS SPECTROMETRY
[French]
PROCÉDÉS ET SYSTÈMES POUR EFFECTUER UNE SPECTROMÉTRIE DE MASSE À ACQUISITION INDÉPENDANTE DES DONNÉES
Applicants **
DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE. LTD.
Inventors
ALVAREZ, Claudia
BLOOMFIELD, Nicholas G.
CHELUR, Anjali
IVOSEV, Gordana
TATE, Stephen
Priority Data
63/538,907
18.09.2023
US
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
| Number of Independent Claims | * |
| Number of Priorities | * |
| Number of Multi-Dependent Claims | * |
| Number of Drawings | * |
| Pages for Publication | * |
| Number of Pages with Drawings | * |
| Pages of Specification | * |
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| Number of Office Actions | * |
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International Searching Authority |
EPO
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| Recordal of a Change of the Applicant's Name/Address |
Change of Applicant's Name and Address
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| Type of Assignment |
The Standard Agent's Assignment
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| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
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| Entry into National Phase under |
Chapter I
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| Patent Delivery |
Send the Letters Patent by Courier
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| 译文 |
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Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing, Examination, Granting | 2251 | |
| EPO | Filing, Examination, Granting | 11342 | |
| Japan | Filing, Examination, Granting | 2340 | |
| South Korea | Filing, Examination, Granting | 2449 | |
| USA | Filing, Examination, Granting | 4940 |
Total:
23,322
The term for entry into the National Phase has expired. This quotation is for informational purposes only
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Abstract[English]
In one aspect, a method of operating an analytical device for measuring at least one analyte within a sample is disclosed, which includes utilizing a digital data processor to receive a sample acquisition rate for introduction of the sample into the analytical device, and to compute one or more optimal operating parameters of the analytical device based on the sample acquisition rate by optimizing a figure-of-merit associated with measurement of the analyte, where the operating parameters include a temporal duration of a measurement cycle and/or selectivity associated with the measurement. The analytical device can be operated at the optimal operating parameters while receiving the sample at the sample acquisition rate to generate sample measurement data corresponding to the analyte. The sample measurement data can be processed to derive information about the analyte.[French]
Selon un aspect, l'invention divulgue un procédé de fonctionnement d'un dispositif analytique pour mesurer au moins un analyte dans un échantillon, qui comprend l'utilisation d'un processeur de données numériques pour recevoir un taux d'acquisition d'échantillon pour l'introduction de l'échantillon dans le dispositif analytique, et pour calculer un ou plusieurs paramètres de fonctionnement optimaux du dispositif analytique sur la base du taux d'acquisition d'échantillon par optimisation d'un facteur de mérite associé à la mesure de l'analyte, les paramètres de fonctionnement comprenant une durée temporelle d'un cycle de mesure et/ou une sélectivité associée à la mesure. Le dispositif analytique peut être actionné aux paramètres de fonctionnement optimaux tout en recevant l'échantillon au taux d'acquisition d'échantillon pour générer des données de mesure d'échantillon correspondant à l'analyte. Les données de mesure d'échantillon peuvent être traitées pour dériver des informations concernant l'analyte.