WO2025041062 - ELECTRON DETACHMENT METHOD AND DEVICE FOR OLIGONUCLEOTIDE ANALYSIS IN MASS SPECTROMETRY
National phase entry is expected:
Publication Number
WO/2025/041062
Publication Date
27.02.2025
International Application No.
PCT/IB2024/058146
International Filing Date
21.08.2024
Title **
[English]
ELECTRON DETACHMENT METHOD AND DEVICE FOR OLIGONUCLEOTIDE ANALYSIS IN MASS SPECTROMETRY
[French]
PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE DÉTACHEMENT D'ÉLECTRONS POUR ANALYSE OLIGONUCLÉOTIDIQUE EN SPECTROMÉTRIE DE MASSE
Applicants **
DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE. LTD.
Inventors
BABA, Takashi
RYUMIN, Pavel
KARASAWA, Kaoru
Priority Data
63/534,241
23.08.2023
US
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
| Number of Independent Claims | * |
| Number of Priorities | * |
| Number of Multi-Dependent Claims | * |
| Number of Drawings | * |
| Pages for Publication | * |
| Number of Pages with Drawings | * |
| Pages of Specification | * |
| * | |
| Number of Office Actions | * |
| * | |
International Searching Authority |
EPO
* |
| Recordal of a Change of the Applicant's Name/Address |
Change of Applicant's Name and Address
* |
| Type of Assignment |
The Standard Agent's Assignment
* |
| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
* |
| * | |
| * | |
| * | |
| * | |
| * | |
| Entry into National Phase under |
Chapter I
* |
| Patent Delivery |
Send the Letters Patent by Courier
* |
| 译文 |
|
* The data is based on automatic recognition. Please verify and amend if necessary.
** IP-Coster compiles data from publicly available sources. If this data includes your personal information, you can contact us to request its removal.
Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing, Examination, Granting | 2865 | |
| EPO | Filing, Examination, Granting | 22561 | |
| Japan | Filing, Examination, Granting | 3038 | |
| South Korea | Filing, Examination, Granting | 4012 | |
| USA | Filing, Examination, Granting | 8940 |
Total:
41,416
The term for entry into the National Phase has expired. This quotation is for informational purposes only
Contact Us
Abstract[English]
Mass spectrometry systems and methods are disclosed. In some embodiments, the mass spectrometry system comprises an ion trap configured to receive a plurality of precursor ions and to load the plurality of precursor ions in a trap region; an electron gun configure to perform an irradiation operation by applying an electron beam to the trap region to produce fragmented ions; an RF gate configured to perform an extraction operation by extracting, from the trap region, a high m/z subset of the fragmented ions with m/z ratios greater than a specific value; and a mass spectrometer configured to perform mass spectrometry analysis on a subset of the fragmented ions remaining in the trap region, wherein an irradiation-extraction operation, including performing the irradiation operation and the extraction operation, is repeated at least twice before performing the mass spectrometry analysis on the subset of the fragmented ions remaining in the trap region.[French]
L'invention concerne des systèmes et des procédés de spectrométrie de masse. Dans certains modes de réalisation, le système de spectrométrie de masse comprend un piège à ions configuré pour recevoir une pluralité d'ions précurseurs et pour charger la pluralité d'ions précurseurs dans une région de piégeage ; un canon à électrons configuré pour effectuer une opération d'irradiation par application d'un faisceau d'électrons à la région de piégeage pour produire des ions fragmentés ; une grille RF conçue pour effectuer une opération d'extraction par extraction, à partir de la région de piégeage, d'un sous-ensemble m/z élevé des ions fragmentés avec des rapports m/z supérieurs à une valeur spécifique ; et un spectromètre de masse conçu pour effectuer une analyse par spectrométrie de masse sur un sous-ensemble des ions fragmentés restant dans la région de piégeage, une opération d'extraction par irradiation, comprenant la réalisation de l'opération d'irradiation et de l'opération d'extraction, étant répétée au moins deux fois avant la réalisation de l'analyse par spectrométrie de masse sur le sous-ensemble des ions fragmentés restant dans la région de piégeage.