WO2025228592 - VERFAHREN UND SYSTEM ZUM PRÜFEN EINER MIT BAUTEILEN BESTÜCKTEN LEITERPLATTE MIT EINEM NADELADAPTER
National phase entry is expected:
Publication Number
WO/2025/228592
Publication Date
06.11.2025
International Application No.
PCT/EP2025/058440
International Filing Date
27.03.2025
Title **
[German]
VERFAHREN UND SYSTEM ZUM PRÜFEN EINER MIT BAUTEILEN BESTÜCKTEN LEITERPLATTE MIT EINEM NADELADAPTER
[English]
METHOD AND SYSTEM FOR TESTING A PRINTED CIRCUIT BOARD POPULATED WITH COMPONENTS, USING A NEEDLE ADAPTER
[French]
PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE TEST D'UNE CARTE DE CIRCUIT IMPRIMÉ ÉQUIPÉE DE COMPOSANTS, À L'AIDE D'UN ADAPTATEUR À AIGUILLES
Applicants **
SEW-EURODRIVE GMBH & CO KG
Inventors
KRATTENMACHER, Hans
Priority Data
102024112201.3
30.04.2024
DE
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
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EPO
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Change of Applicant's Name and Address
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| Type of Assignment |
The Standard Agent's Assignment
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| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
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| Entry into National Phase under |
Chapter I
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| Patent Delivery |
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| 译文 |
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Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing, Examination, Granting | 1938 | |
| EPO | Filing, Examination, Granting | 8126 | |
| Japan | Filing, Examination, Granting | 2062 | |
| South Korea | Filing, Examination, Granting | 1883 | |
| USA | Filing, Examination, Granting | 4740 |
Total:
18,749
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Abstract[German]
Verfahren zum Prüfen einer mit Bauteilen bestückten Leiterplatte mit einem Nadeladapter, dessen Nadeln mit einer Signalelektronik verbunden sind, wobei in einem ersten Verfahrensschritt Muster-Signalverläufe, insbesondere Soll-Signalverläufe, oder Muster-Frequenzspektren bestimmt werden, wobei in einem zeitlich nach dem ersten Verfahrensschritt angeordneten zweiten Verfahrensschritt von den Nadeln erste Kontaktstellen der Leiterplatte elektrisch kontaktiert werden, wobei mittels einer ersten der Nadeln des Nadeladapters ein Hochfrequenzsignal in die von der ersten Nadel kontaktierte Kontaktstelle der Leiterplatte eingekoppelt wird - wobei die darauf an den anderen Nadeln des Nadeladapters bewirkten Signalverläufe verglichen werden mit Muster-Signalverläufen und auf Überschreiten eines zulässigen Maßes an Abweichung überwacht werden - oder wobei die darauf an den anderen Nadeln des Nadeladapters bewirkten Frequenzspektren von Signalverläufen verglichen werden mit Muster-Frequenzspektren und auf Überschreiten eines zulässigen Maßes an Abweichung überwacht werden.[English]
The invention relates to a method for testing a printed circuit board populated with components, using a needle adapter, the needles of which are connected to signal electronics, wherein, in a first method step, sample signal curves, in particular target signal curves, or sample frequency spectra are determined, wherein, in a second method step subsequent to the first method step, first contact points of the printed circuit board are electrically contacted by the needles, wherein a first of the needles of the needle adapter is used to couple a high-frequency signal into the contact point of the printed circuit board that is contacted by the first needle, - wherein the signal curves thereupon caused at the other needles of the needle adapter are compared with sample signal curves and are monitored with respect to whether a permissible extent of deviation is exceeded - or wherein the frequency spectra, of signal curves, which are thereupon caused at the other needles of the needle adapter are compared with sample frequency spectra and are monitored with respect to whether a permissible extent of deviation is exceeded.[French]
L'invention concerne un procédé de test d'une carte de circuit imprimé équipée de composants, à l'aide d'un adaptateur à aiguille dont les aiguilles sont connectées à une électronique de signalisation, dans lequel, dans une première étape de procédé, des courbes de signal d'échantillon, en particulier des courbes de signal cible, ou des spectres de fréquence d'échantillon sont déterminées, dans lequel, dans une seconde étape de procédé postérieure à la première étape de procédé, des premiers points de contact de la carte de circuit imprimé entrent en contact électrique avec les aiguilles, dans lequel une première aiguille des aiguilles de l'adaptateur à aiguilles est utilisée pour coupler un signal haute fréquence dans le point de contact de la carte de circuit imprimé qui entre en contact avec la première aiguille, - dans lequel les courbes de signal ainsi provoquées au niveau des autres aiguilles de l'adaptateur à aiguilles sont comparées à des courbes de signal d'échantillon et sont surveillées pour déterminer si une étendue admissible d'écart est dépassée ou non - ou dans lequel les spectres de fréquence, de courbes de signal, qui sont ainsi provoquées au niveau des autres aiguilles de l'adaptateur à aiguilles sont comparés à des spectres de fréquence d'échantillon et sont surveillés pour déterminer si une étendue admissible d'écart est dépassée ou non.