WO2025153672 - VERFAHREN ZUR LOKALISIERUNG ODER ZUM VERFOLGEN VON EMITTERN IN EINER PROBE, VERFAHREN ZUM TRAINIEREN EINES DATENVERARBEITUNGSNETZES, DATENVERARBEITUNGSVORRICHTUNG, LICHTMIKROSKOP UND COMPUTERPROGRAMM

National phase entry is expected:
Publication Number WO/2025/153672
Publication Date 24.07.2025
International Application No. PCT/EP2025/051132
International Filing Date 17.01.2025
Title **
[German] VERFAHREN ZUR LOKALISIERUNG ODER ZUM VERFOLGEN VON EMITTERN IN EINER PROBE, VERFAHREN ZUM TRAINIEREN EINES DATENVERARBEITUNGSNETZES, DATENVERARBEITUNGSVORRICHTUNG, LICHTMIKROSKOP UND COMPUTERPROGRAMM
[English] METHOD FOR LOCATING OR TRACKING EMITTERS IN A SAMPLE, METHOD FOR TRAINING A DATA PROCESSING NETWORK, DATA PROCESSING APPARATUS, OPTICAL MICROSCOPE, AND COMPUTER PROGRAM
[French] PROCÉDÉ DE LOCALISATION OU DE SUIVI D'ÉMETTEURS DANS UN ÉCHANTILLON, PROCÉDÉ D'ENTRAÎNEMENT D'UN RÉSEAU DE TRAITEMENT DE DONNÉES, APPAREIL DE TRAITEMENT DE DONNÉES, MICROSCOPE OPTIQUE ET PROGRAMME D'ORDINATEUR
Applicants **
ABBERIOR INSTRUMENTS GMBH
Inventors
REUSS, Matthias
Priority Data
102024101270.6   17.01.2024   DE
Application details
Total Number of Claims/PCT *
Number of Independent Claims *
Number of Priorities *
Number of Multi-Dependent Claims *
Number of Drawings *
Pages for Publication *
Number of Pages with Drawings *
Pages of Specification *
*
Number of Office Actions *
*
International Searching Authority
*
Recordal of a Change of the Applicant's Name/Address
*
Type of Assignment
*
Applicant's Legal Status
*
*
*
*
*
*
Entry into National Phase under
*
Patent Delivery
*
译文

* The data is based on automatic recognition. Please verify and amend if necessary.

** IP-Coster compiles data from publicly available sources. If this data includes your personal information, you can contact us to request its removal.

Quotation for National Phase entry

Country StagesTotal
China Filing, Examination, Granting2358
EPO Filing, Examination, Granting13747
Japan Filing, Examination, Granting2494
South Korea Filing, Examination, Granting2763
USA Filing, Examination, Granting5940
MasterCard Visa
Total: 27,302
Contact Us
Abstract[German] Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Lokalisierung oder zum Verfolgen von Emittern in einer Probe (2), wobei die Probe (2) mit einer Intensitätsverteilung eines Beleuchtungslichts (B) mit einem lokalen Minimum beleuchtet wird, und wobei auf Basis von Lichtemissionen (L) eines Messemitters in der Probe (2) Lokalisationsdaten (21) erstellt werden, wobei eine Position des Messemitters in der Probe (2) mittels einer Verarbeitung der Lokalisationsdaten (21) durch ein trainiertes Datenverarbeitungsnetz (20) geschätzt wird, wobei das Datenverarbeitungsnetz (20) mittels Trainingsdaten trainiert ist, sowie ein Verfahren zum Trainieren eines Datenverarbeitungsnetzes (20), eine Datenverarbeitungsvorrichtung (6), ein Lichtmikroskop (100) und ein Computerprogramm zur Durchführung des Verfahrens.[English] The invention relates to a method for locating or tracking emitters in a sample (2), wherein the sample (2) is illuminated with an intensity distribution of an illuminating light (B) with a local minimum, and wherein light emissions (L) from a measurement emitter in the sample (2) are taken as a basis for producing location data (21), wherein a position of the measurement emitter in the sample (2) is estimated by a trained data processing network (20) by processing the location data (21), wherein the data processing network (20) is trained by means of training data, and to a method for training a data processing network (20), a data processing apparatus (6), an optical microscope (100) and a computer program for carrying out the method.[French] L'invention se rapporte à un procédé de localisation ou de suivi d'émetteurs dans un échantillon (2), l'échantillon (2) étant éclairé avec une distribution d'intensité d'une lumière d'éclairage (B) avec un minimum local, et des émissions de lumière (L) provenant d'un émetteur de mesure dans l'échantillon (2) étant prises comme base pour produire des données d'emplacement (21), une position de l'émetteur de mesure dans l'échantillon (2) étant estimée par un réseau de traitement de données entraîné (20) par traitement des données d'emplacement (21), le réseau de traitement de données (20) étant entraîné au moyen de données d'entraînement, et à un procédé d'entraînement d'un réseau de traitement de données (20), un appareil de traitement de données (6), un microscope optique (100) et un programme d'ordinateur pour mettre en œuvre le procédé.