WO2026056256 - SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND INTEGRATED ASSEMBLY

National phase entry:
Publication Number WO/2026/056256
Publication Date 19.03.2026
International Application No. PCT/CN2025/087720
International Filing Date 08.04.2025
Title **
[English] SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND INTEGRATED ASSEMBLY
[French] STRUCTURE SEMI-CONDUCTRICE ET ENSEMBLE INTÉGRÉ
[Chinese] 半导体结构以及集成组合件
Applicants **
CXMT CORPORATION
Inventors
BAI, Shijie
SHENG, Bohui
RAO, Depeng
Priority Data
202411267637.7   10.09.2024   CN
Application details
Total Number of Claims/PCT *
Number of Independent Claims *
Number of Priorities *
Number of Multi-Dependent Claims *
Number of Drawings *
Pages for Publication *
Number of Pages with Drawings *
Pages of Specification *
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International Searching Authority
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Type of Assignment
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Applicant's Legal Status
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Entry into National Phase under
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Patent Delivery
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译文

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Quotation for National Phase entry

Country StagesTotal
China Filing, Examination, Granting1807
EPO Filing, Examination, Granting13110
Japan Filing, Examination, Granting2247
South Korea Filing, Examination, Granting2336
USA Filing, Examination, Granting4740
MasterCard Visa
Total: 24,240
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Abstract[English] Provided in the embodiments of the present disclosure are a semiconductor structure and an integrated assembly. The semiconductor structure comprises: a first surface and a second surface that are opposite to each other; a first connection pad and a second connection pad that are arranged on the first surface; a third connection pad, a fourth connection pad and a fifth connection pad that are arranged on the second surface; and a memory cell region provided between the first surface and the second surface and containing a first connection part and, arranged in a first direction, a first semiconductor device and a second semiconductor device. The first connection pad and the fourth connection pad are connected to the first semiconductor device; the second connection pad and the fifth connection pad are connected to the second semiconductor device; the first connection part is connected to at least one of the first semiconductor device and the second semiconductor device; the first connection part is connected to the third connection pad. The semiconductor structure provided in the embodiments of the present disclosure has higher integration density.[French] Les modes de réalisation de la présente divulgation concernent une structure semi-conductrice et un ensemble intégré. La structure semi-conductrice comprend : une première surface et une seconde surface qui sont opposées l'une à l'autre ; un premier plot de connexion et un deuxième plot de connexion qui sont disposés sur la première surface ; un troisième plot de connexion, un quatrième plot de connexion et un cinquième plot de connexion qui sont disposés sur la seconde surface ; et une région de cellule de mémoire disposée entre la première surface et la seconde surface et contenant une première partie de connexion et, disposés dans une première direction, un premier dispositif à semi-conducteur et un second dispositif à semi-conducteur. Le premier plot de connexion et le quatrième plot de connexion sont connectés au premier dispositif à semi-conducteur ; le deuxième plot de connexion et le cinquième plot de connexion sont connectés au second dispositif à semi-conducteur ; la première partie de connexion est connectée au premier dispositif à semi-conducteur et/ou au second dispositif à semi-conducteur ; la première partie de connexion est connectée au troisième plot de connexion. La structure semi-conductrice selon les modes de réalisation de la présente divulgation présente une densité d'intégration supérieure.[Chinese] 本公开实施例提供了一种半导体结构以及集成组合件,半导体结构包括:相对的第一表面和第二表面;设置于第一表面的第一连接垫和第二连接垫,设置于第二表面的第三连接垫、第四连接垫和第五连接垫;设置在第一表面与第二表面之间的存储单元区域,包括沿第一方向排布的第一半导体器件和第二半导体器件以及第一连接部,第一连接垫和第四连接垫连接第一半导体器件,第二连接垫和第五连接垫连接第二半导体器件,第一连接部与第一半导体器件和第二半导体器件中的至少一个连接,第一连接部连接第三连接垫。本公开实施例提供的半导体结构具有更高的集成度。