WO2025248480 - APPARATUS AND METHOD FOR AUTOMATICALLY CALIBRATING THE POSITION OF A TEST TOOL OF A BOND TESTER

National phase entry is expected:
Publication Number WO/2025/248480
Publication Date 04.12.2025
International Application No. PCT/IB2025/055548
International Filing Date 29.05.2025
Title **
[English] APPARATUS AND METHOD FOR AUTOMATICALLY CALIBRATING THE POSITION OF A TEST TOOL OF A BOND TESTER
[French] APPAREIL ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE AUTOMATIQUE DE POSITION D'UN OUTIL DE TEST DE TESTEUR D'ADHÉRENCE
Applicants **
NORDSON CORPORATION
Inventors
JONES, Christopher
POWELL, David
Priority Data
2407752.1   31.05.2024   GB
Application details
Total Number of Claims/PCT *
Number of Independent Claims *
Number of Priorities *
Number of Multi-Dependent Claims *
Number of Drawings *
Pages for Publication *
Number of Pages with Drawings *
Pages of Specification *
*
Number of Office Actions *
*
International Searching Authority
*
Recordal of a Change of the Applicant's Name/Address
*
Type of Assignment
*
Applicant's Legal Status
*
*
*
*
*
*
Entry into National Phase under
*
Patent Delivery
*
Translation

* The data is based on automatic recognition. Please verify and amend if necessary.

** IP-Coster compiles data from publicly available sources. If this data includes your personal information, you can contact us to request its removal.

Quotation for National Phase entry

Country StagesTotal
China Filing, Examination, Granting2305
EPO Filing, Examination, Granting12742
Japan Filing, Examination, Granting2452
South Korea Filing, Examination, Granting2596
USA Filing, Examination, Granting5540
MasterCard Visa
Total: 25,635
Contact Us
Abstract[English] A bond testing apparatus comprising a calibration system for determining the offset between a test tool and sample inspection camera. The calibration system comprises: a calibration camera; a reference mask arranged coplanar with a sample support, the reference mask comprising an aperture and a plurality of mask features that allows for the calculation of a virtual target datum within the aperture; and one or more processors configured to calculate a virtual target datum in the central aperture, using the plurality of mask features upon receiving an image or images from the calibration camera or the sample inspection camera. The one or more processors is configured to determine that the sample inspection camera is aligned with the virtual target datum based on a position of the virtual target datum within an image or images from the sample inspection camera. The processor is configured to determine when the test tool is aligned with the virtual target datum based on an image or images of the test tool from the calibration camera. The processor is configured to calculate the offset between the sample inspection camera and the test tool based on a movement of the positioning mechanism required to move from a first position in which the sample inspection camera is aligned with the virtual target datum and a second position in which the test tool is aligned with the virtual target datum.[French] L'invention concerne un appareil de test d'adhérence comprenant un système d'étalonnage pour déterminer le décalage entre un outil de test et une caméra d'inspection d'échantillon. Le système d'étalonnage comprend : une caméra d'étalonnage ; un masque de référence agencé de manière coplanaire avec un support d'échantillon, le masque de référence comprenant une ouverture et une pluralité de caractéristiques de masque qui permettent le calcul d'une référence de cible virtuelle à l'intérieur de l'ouverture ; et un ou plusieurs processeurs configurés pour calculer une référence de cible virtuelle dans l'ouverture centrale, à l'aide de la pluralité de caractéristiques de masque lors de la réception d'une ou de plusieurs images provenant de la caméra d'étalonnage ou de la caméra d'inspection d'échantillon. Le ou les processeurs sont configurés pour déterminer l'alignement de la caméra d'inspection d'échantillon avec la référence de cible virtuelle sur la base d'une position de cette dernière dans une ou plusieurs images provenant de la caméra d'inspection d'échantillon. Le processeur est configuré pour déterminer l'alignement de l'outil de test avec la référence de cible virtuelle sur la base d'une ou de plusieurs images de l'outil de test provenant de la caméra d'étalonnage. Le processeur est configuré pour calculer le décalage entre la caméra d'inspection d'échantillon et l'outil de test sur la base d'un mouvement du mécanisme de positionnement requis pour d'une première position, dans laquelle la caméra d'inspection d'échantillon est alignée avec la référence de cible virtuelle, à une seconde position, dans laquelle l'outil de test est aligné avec la référence de cible virtuelle.

Rejoining the server...