WO2025196730 - POSITION ESTIMATION USING A MODELED LOSS FUNCTION
National phase entry is expected:
Publication Number
WO/2025/196730
Publication Date
25.09.2025
International Application No.
PCT/IB2025/053031
International Filing Date
21.03.2025
Title **
[English]
POSITION ESTIMATION USING A MODELED LOSS FUNCTION
[French]
ESTIMATION DE POSITION À L'AIDE D'UNE FONCTION DE PERTE MODÉLISÉE
Applicants **
NEXTNAV FRANCE
Inventors
CHRABIEH, Rabih
HOANG, Minh
Priority Data
63/568,554
22.03.2024
US
18/756,421
27.06.2024
US
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
| Number of Independent Claims | * |
| Number of Priorities | * |
| Number of Multi-Dependent Claims | * |
| Number of Drawings | * |
| Pages for Publication | * |
| Number of Pages with Drawings | * |
| Pages of Specification | * |
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| Number of Office Actions | * |
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International Searching Authority |
EPO
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| Recordal of a Change of the Applicant's Name/Address |
Change of Applicant's Name and Address
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| Type of Assignment |
The Standard Agent's Assignment
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| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
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| Entry into National Phase under |
Chapter I
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| Patent Delivery |
Send the Letters Patent by Courier
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| Translation |
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Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing, Examination, Granting | 2583 | |
| EPO | Filing, Examination, Granting | 13322 | |
| Japan | Filing, Examination, Granting | 2420 | |
| South Korea | Filing, Examination, Granting | 2586 | |
| USA | Filing, Examination, Granting | 7140 |
Total:
28,051
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Abstract[English]
A method involves collecting first positioning data associated with multiple positioning data quality metrics within a region. One or more modeled loss functions associated with each positioning data quality metric are determined using the first positioning data. The modeled loss functions are stored at a database. A first estimated position of a computing device is determined using second positioning data. A modeled loss function that is associated with a positioning data quality metric associated with the second positioning data is retrieved from the database. A first gradient descent process is performed using the first estimated position and the retrieved modeled loss function to determine an estimated clock bias for the computing device. A second gradient descent process using the first estimated position, the estimated clock bias, and the retrieved modeled loss function is performed to determine a second estimated position for the computing device.[French]
L'invention concerne un procédé qui consiste à collecter des premières données de positionnement associées à de multiples mesures de qualité de données de positionnement à l'intérieur d'une région. Une ou plusieurs fonctions de perte modélisées associées à chaque mesure de qualité de données de positionnement sont déterminées à l'aide des premières données de positionnement. Les fonctions de perte modélisées sont stockées au niveau d'une base de données. Une première position estimée d'un dispositif informatique est déterminée à l'aide de secondes données de positionnement. Une fonction de perte modélisée qui est associée à une mesure de qualité de données de positionnement associée aux secondes données de positionnement est extraite de la base de données. Un premier processus de descente de gradient est effectué à l'aide de la première position estimée et de la fonction de perte modélisée récupérée afin de déterminer une polarisation d'horloge estimée pour le dispositif informatique. Un second processus de descente de gradient qui utilise la première position estimée, la polarisation d'horloge estimée et la fonction de perte modélisée récupérée est effectué afin de déterminer une seconde position estimée pour le dispositif informatique.