WO2025172804 - SAMPLE ANALYZING SYSTEM AND A COMPUTER IMPLEMENTED METHOD OF CAPPING SECONDARY TUBES SAMPLE ANALYZING SYSTEM AND A COMPUTER IMPLEMENTED METHOD OF CAPPING SECONDARY TUBES

National phase entry is expected:
Publication Number WO/2025/172804
Publication Date 21.08.2025
International Application No. PCT/IB2025/051300
International Filing Date 07.02.2025
Title **
[English] SAMPLE ANALYZING SYSTEM AND A COMPUTER IMPLEMENTED METHOD OF CAPPING SECONDARY TUBES SAMPLE ANALYZING SYSTEM AND A COMPUTER IMPLEMENTED METHOD OF CAPPING SECONDARY TUBES
[French] SYSTÈME D'ANALYSE D'ÉCHANTILLON ET PROCÉDÉ MIS EN ŒUVRE PAR ORDINATEUR DE COIFFAGE D'UN SYSTÈME D'ANALYSE D'ÉCHANTILLON DE TUBES SECONDAIRES ET PROCÉDÉ MIS EN ŒUVRE PAR ORDINATEUR DE COIFFAGE DE TUBES SECONDAIRES
Applicants **
BECKMAN COULTER, INC.
Inventors
QUINT, Joseph F.
BENEGAL, Aditya Mohan
HANUMANTHAPPA, Anil Kumar
NAETZER, Beate
JOHNS, Charles W.
Priority Data
24157346.8   13.02.2024   EP
Application details
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Quotation for National Phase entry

Country StagesTotal
China Filing, Examination, Granting2064
EPO Filing, Examination, Granting8468
Japan Filing, Examination, Granting2168
South Korea Filing, Examination, Granting1970
USA Filing, Examination, Granting4740
MasterCard Visa
Total: 19,410
Abstract[English] A sample analyzing system (1) for analyzing a sample contained within a primary tube entering the sample analyzing system (1) comprises a plurality of stations (11, 12, 13, 14, 15) for analyzing samples and/or for storing samples and/or for transporting samples to an offline analyzer. An aliquoter station (3) is configured to, depending on which tests are scheduled for the sample within the primary tube, fill a share of the sample contained in the primary tube into at least one secondary tube, wherein the secondary tube is scheduled for being sent to at least one selected station (11, 12, 13, 14, 15) from the plurality of stations (11, 12, 13, 14, 15). A first cap station (4a) is configured to apply a cap of a first cap type to the secondary tube. A second cap station (4b) is configured to apply a cap of a second cap type to the secondary tube, wherein the second cap type differs from the first cap type. A cap selection module (6) is configured to select a capping selection for the secondary tube, wherein capping selections include one or more of an uncapped state, a first cap state, wherein the secondary tube is closed by a cap of the first cap type, and a second cap state, wherein the secondary tube is closed by a cap of the second cap type. Therein, the sample analyzing system (1) is further configured to, depending on the selected capping selection, provide the secondary tube with a cap of the first cap type at the first cap station if the first cap state is selected, or with a cap of the secondary cap type at the second cap station if the second cap state is selected, or leave the secondary tube uncapped if the uncapped state is selected, before the secondary tube is send to its at least one selected station (11, 12, 13, 14, 15).[French] L'invention concerne un système d'analyse d'échantillon (1) pour analyser un échantillon contenu à l'intérieur d'un tube primaire entrant dans le système d'analyse d'échantillon (1) comprenant une pluralité de stations (11, 12, 13, 14, 15) pour analyser des échantillons et/ou pour stocker des échantillons et/ou pour transporter des échantillons vers un analyseur hors ligne. Une station d'aliquoteur (3) est configurée pour, en fonction des tests programmés pour l'échantillon à l'intérieur du tube primaire, remplir une part de l'échantillon contenu dans le tube primaire dans au moins un tube secondaire, le tube secondaire étant programmé pour être envoyé à au moins une station sélectionnée (11, 12, 13, 14, 15) parmi la pluralité de stations (11, 12, 13, 14, 15). Une première station de coiffe (4a) est configurée pour appliquer une coiffe d'un premier type de coiffe au tube secondaire. Une seconde station de coiffe (4b) est conçue pour appliquer une coiffe d'un second type de coiffe au tube secondaire, le second type de coiffe étant différent du premier type de coiffe. Un module de sélection de coiffe (6) est configuré pour sélectionner une sélection de coiffage pour le tube secondaire, les sélections de coiffage comprenant un ou plusieurs états parmi un état non coiffé, un premier état de coiffe, dans lequel le tube secondaire est fermé par une coiffe du premier type de coiffe, et un second état de coiffe, dans lequel le tube secondaire est fermé par une coiffe du second type de coiffe. Le système d'analyse d'échantillon (1) est en outre configuré pour, en fonction de la sélection de coiffage sélectionnée, fournir au tube secondaire une coiffe du premier type de coiffe au niveau de la première station de coiffe si le premier état de coiffe est sélectionné, ou une coiffe du type de coiffe secondaire au niveau de la seconde station de coiffe si le second état de coiffe est sélectionné, ou laisser le tube secondaire non coiffé si l'état non coiffé est sélectionné, avant que le tube secondaire soit envoyé à sa ou ses stations sélectionnées (11, 12, 13, 14, 15).

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