WO2024201331 - VALIDITY DURATION OF A CARRIER PHASE MEASUREMENT
National phase entry is expected:
Publication Number
WO/2024/201331
Publication Date
03.10.2024
International Application No.
PCT/IB2024/052967
International Filing Date
27.03.2024
Title **
[English]
VALIDITY DURATION OF A CARRIER PHASE MEASUREMENT
[French]
DURÉE DE VALIDITÉ D'UNE MESURE DE PHASE DE PORTEUSE
Applicants **
NOKIA TECHNOLOGIES OY
Inventors
KEATING, Ryan
CHA, Hyun-Su
JOSHI, Satya Krishna
Priority Data
63/493,487
31.03.2023
US
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
| Number of Independent Claims | * |
| Number of Priorities | * |
| Number of Multi-Dependent Claims | * |
| Number of Drawings | * |
| Pages for Publication | * |
| Number of Pages with Drawings | * |
| Pages of Specification | * |
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| Number of Office Actions | * |
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International Searching Authority |
EPO
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| Recordal of a Change of the Applicant's Name/Address |
Change of Applicant's Name and Address
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| Type of Assignment |
The Standard Agent's Assignment
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| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
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| Entry into National Phase under |
Chapter I
* |
| Patent Delivery |
Send the Letters Patent by Courier
* |
| Translation |
|
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Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing, Examination, Granting | 3156 | |
| EPO | Filing, Examination, Granting | 26056 | |
| Japan | Filing, Examination, Granting | 3213 | |
| South Korea | Filing, Examination, Granting | 4165 | |
| USA | Filing, Examination, Granting | 18340 |
Total:
54,930
The term for entry into the National Phase has expired. This quotation is for informational purposes only
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Abstract[English]
A method, apparatus, and computer program product determine, provide, and/or utilize a validity duration of a carrier phase (CP) measurement. The validity duration of a carrier phase measurement enables reuse of certain carrier phase measurements used in a double differential carrier phase (DD-CP) measurement, thereby reducing signaling overhead in certain positioning functions of certain systems. The validity duration of a CP measurement can be implemented at a terminal device, referencing positioning device, network node, location management function, and/or the like, and can be utilized in downlink and/or uplink transmission.[French]
L'invention concerne un procédé, un appareil et un produit programme d'ordinateur qui déterminent, fournissent et/ou utilisent une durée de validité d'une mesure de phase de porteuse (CP). La durée de validité d'une mesure de phase de porteuse permet la réutilisation de certaines mesures de phase de porteuse utilisées dans une mesure de phase de porteuse différentielle double (DD-CP), ce qui permet de réduire le surdébit de signalisation dans certaines fonctions de positionnement de certains systèmes. La durée de validité d'une mesure CP peut être mise en œuvre au niveau d'un dispositif terminal, d'un dispositif de positionnement de référence, d'un nœud de réseau, d'une fonction de gestion d'emplacement et/ou similaire, et peut être utilisée dans une transmission en liaison descendante et/ou en liaison montante.