WO2025257376 - VERFAHREN UND VORRICHTUNG FÜR CHIPLET-SYSTEM
National phase entry is expected:
Publication Number
WO/2025/257376
Publication Date
18.12.2025
International Application No.
PCT/EP2025/066522
International Filing Date
13.06.2025
Title **
[German]
VERFAHREN UND VORRICHTUNG FÜR CHIPLET-SYSTEM
[English]
METHOD AND DEVICE FOR A CHIPLET SYSTEM
[French]
PROCÉDÉ ET DISPOSITIF POUR UN SYSTÈME DE MICROPUCES
Applicants **
ROBERT BOSCH GMBH
Inventors
BORRMANN, Jan Micha
Priority Data
102024205533.6
14.06.2024
DE
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
| Number of Independent Claims | * |
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| Number of Drawings | * |
| Pages for Publication | * |
| Number of Pages with Drawings | * |
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International Searching Authority |
EPO
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| Recordal of a Change of the Applicant's Name/Address |
Change of Applicant's Name and Address
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| Type of Assignment |
The Standard Agent's Assignment
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| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
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| Entry into National Phase under |
Chapter I
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| Patent Delivery |
Send the Letters Patent by Courier
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| Translation |
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Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing, Examination, Granting | 1994 | |
| EPO | Filing, Examination, Granting | 8133 | |
| Japan | Filing, Examination, Granting | 2147 | |
| South Korea | Filing, Examination, Granting | 1981 | |
| USA | Filing, Examination, Granting | 8340 |
Total:
22,595
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Abstract[German]
Verfahren für Chiplet-System, wobei das Chiplet-System ein erstes Chiplet aufweist, das dazu ausgebildet ist, eine erste Funktion auszuführen und ein zweites Chiplet, das dazu ausgebildet ist, eine zweite Funktion auszuführen, wobei beispielsweise die zweite Funktion von der ersten Funktion verschieden ist, wobei das Verfahren aufweist: Erkennen eines Fehlers des zweiten Chiplets, beispielsweise bezüglich der Ausführung der zweiten Funktion, zumindest zeitweises Ausführen wenigstens eines Teils der zweiten Funktion durch das erste Chiplet.[English]
Method for a chiplet system, the chiplet system including a first chiplet designed to perform a first function and a second chiplet designed to perform a second function, the second function differing from the first function for example, the method comprising: detection of a fault in the second chiplet, for example with regard to the performance of the second function, and at least temporary performance of at least part of the second function by the first chiplet.[French]
L'invention concerne un procédé pour un système de micropuces, le système de micropuces comprenant une première micropuce conçue pour effectuer une première fonction et une seconde micropuce conçue pour effectuer une seconde fonction, la seconde fonction différant de la première fonction par exemple, le procédé comprenant : la détection d'un défaut dans la seconde micropuce, par exemple en ce qui concerne les performances de la seconde fonction, et au moins les performances temporaires d'au moins une partie de la seconde fonction par la première micropuce.