WO2025016759 - MINFLUX- ODER STED-MINFLUX-MIKROSKOP MIT ERHÖHTER ZEITLICH-ÖRTLICHER AUFLÖSUNG UND ENTSPRECHENDES VERFAHREN
National phase entry is expected:
Publication Number
WO/2025/016759
Publication Date
23.01.2025
International Application No.
PCT/EP2024/069085
International Filing Date
05.07.2024
Title **
[German]
MINFLUX- ODER STED-MINFLUX-MIKROSKOP MIT ERHÖHTER ZEITLICH-ÖRTLICHER AUFLÖSUNG UND ENTSPRECHENDES VERFAHREN
[English]
MINFLUX OR STED MINFLUX MICROSCOPE HAVING INCREASED TEMPORAL-SPATIAL RESOLUTION, AND CORRESPONDING METHOD
[French]
MICROSCOPE À MINFLUX OU STED-MINFLUX À RÉSOLUTION SPATIO-TEMPORELLE ACCRUE ET PROCÉDÉ CORRESPONDANT
Applicants **
ABBERIOR INSTRUMENTS GMBH
Inventors
SCHMIDT, Roman
FISCHER, Joachim
Priority Data
102023119101.2
19.07.2023
DE
Application details
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EPO
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Change of Applicant's Name and Address
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The Standard Agent's Assignment
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| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
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| Entry into National Phase under |
Chapter I
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Send the Letters Patent by Courier
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Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing, Examination, Granting | 2476 | |
| EPO | Filing, Examination, Granting | 12657 | |
| Japan | Filing, Examination, Granting | 2400 | |
| South Korea | Filing, Examination, Granting | 2473 | |
| USA | Filing, Examination, Granting | 5140 |
Total:
25,146
The term for entry into the National Phase has expired. This quotation is for informational purposes only
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Abstract[German]
Zur Verbesserung der örtlich-zeitlichen Auflösung der Lokalisation einzelner Emitter, insbesondere einzelner Fluorophore, die bei Durchführung von MINFLUX-Verfahren oder STED-MINFLUX-Verfahren mittels eines entsprechenden Mikroskops (1) erreicht wird, wird ein verbessertes Verfahren und ein verbessertes Mikroskop (1) vorgeschlagen. Eine Messeinrichtung (13) des Mikroskops (1) bestimmt eine jeweils aktuelle Lage oder eine aktuelle Richtung des von einem Strahlscanner (10, 18) abgelenkten oder verlagerten Referenzlichtstrahls (R) und in Abhängigkeit von der aktuellen Lage oder der aktuellen Richtung wird ein Signal (S) ausgegeben, das indikativ ist für eine jeweilige aktuelle Position des Fokuspunktes, den ein Beleuchtungslicht (B) in der Probe ausbildet. Das Signal (S) wird zur Korrektur der Ansteuerung der Ablenkeinrichtung (9) des Mikroskops (1) und/oder zur Verbesserung der Lokalisationsgenauigkeit durch Berücksichtigung der gemessenen Fokuspositionen bei einer Auswertung von MINFLUX- oder STED-MINFLUX-Messdaten genutzt.[English]
In order to improve the spatial-temporal resolution of the localization of individual emitters, in particular individual fluorophores, which is achieved when carrying out MINFLUX methods or STED MINFLUX methods by means of a corresponding microscope (1), an improved method and an improved microscope (1) are proposed. A measuring device (13) of the microscope (1) determines each current location or a current direction of the reference light beam (R) deflected or displaced by a beam scanner (10, 18), and a signal (S) indicative of an associated current position of the focus point formed by illumination light (B) in the sample is output as a function of the current location or the current direction. The signal (S) is used to correct the control of the deflection device (9) of the microscope (1) and/or to improve the localization accuracy by taking account of the measured focus positions in an evaluation of MINFLUX or STED MINFLUX measurement data.[French]
L'objectif de l'invention est d'améliorer la résolution spatio-temporelle de la localisation d'émetteurs individuels, en particulier de fluorophores individuels, obtenue lors de la mise en œuvre de procédés MINFLUX ou de procédés STED-MINFLUX au moyen d'un microscope (1) correspondant. À cet effet, un procédé amélioré et un microscope (1) amélioré sont proposés. Un dispositif de mesure (13) du microscope (1) détermine une position dans l'instant respective ou une direction dans l'instant du faisceau lumineux de référence (R) dévié ou déplacé par un scanner à faisceau (10, 18) et, en fonction de la position dans l'instant ou de la direction dans l'instant, un signal (S) qui indique une position dans l'instant respective du point focal, qui forme une lumière d'éclairage (B) dans l'échantillon, est émis. Le signal (S) est utilisé pour corriger la commande du dispositif de déviation (9) du microscope (1) et/ou pour améliorer la précision de localisation avec prise en compte des positions focales mesurées lors d'une évaluation de données de mesure MINFLUX ou STED-MINFLUX.