WO2026113167 - PREPARATION METHOD FOR TRENCH CAPACITOR, AND TRENCH CAPACITOR AND PACKAGE STRUCTURE

National phase entry is expected:
Publication Number WO/2026/113167
Publication Date 04.06.2026
International Application No. PCT/CN2025/080722
International Filing Date 05.03.2025
Title **
[English] PREPARATION METHOD FOR TRENCH CAPACITOR, AND TRENCH CAPACITOR AND PACKAGE STRUCTURE
[French] PROCÉDÉ DE PRÉPARATION DE CONDENSATEUR À TRANCHÉE, ET CONDENSATEUR À TRANCHÉE ET STRUCTURE DE BOÎTIER
[Chinese] 一种沟槽电容的制备方法、沟槽电容及封装结构
Applicants **
CXMT CORPORATION
Inventors
CHEN, Xiaolong
WANG, Chunyang
Priority Data
202411724295.7   27.11.2024   CN
Application details
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Quotation for National Phase entry

Country StagesTotal
China Filing, Examination, Granting1864
EPO Filing, Examination, Granting14189
Japan Filing, Examination, Granting2326
South Korea Filing, Examination, Granting2442
USA Filing, Examination, Granting4740
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Abstract[English] A preparation method for a trench capacitor (100), and a trench capacitor (100) and a package structure. The method may at least comprise: providing a substrate (10), wherein the substrate (10) is provided with a first trench (201); forming a first electrode layer (401) in the first trench (201), wherein the first electrode layer (401) covers the first trench (201) and covers a surface of the substrate (10); forming a first dielectric layer (301), wherein the first dielectric layer (301) covers the first electrode layer (401); forming a second dielectric layer (302), wherein the second dielectric layer (302) at least covers the first dielectric layer (301) on the surface of the substrate (10), and the thickness of the second dielectric layer (302) is greater than the thickness of the first dielectric layer (301); forming a second electrode layer (402) on the second dielectric layer (302), wherein the second electrode layer (402) covers the second dielectric layer (302); and forming a third dielectric layer (303), wherein the remaining portion of the first trench (201) is filled with the third dielectric layer (303).[French] L'invention concerne un procédé de préparation d'un condensateur à tranchée (100), et un condensateur à tranchée (100) et une structure de boîtier. Le procédé peut au moins consister à : fournir un substrat (10), le substrat (10) étant pourvu d'une première tranchée (201) ; former une première couche d'électrode (401) dans la première tranchée (201), la première couche d'électrode (401) recouvrant la première tranchée (201) et recouvrant une surface du substrat (10) ; former une première couche diélectrique (301), la première couche diélectrique (301) recouvrant la première couche d'électrode (401) ; former une deuxième couche diélectrique (302), la deuxième couche diélectrique (302) recouvrant au moins la première couche diélectrique (301) sur la surface du substrat (10), et l'épaisseur de la deuxième couche diélectrique (302) étant supérieure à l'épaisseur de la première couche diélectrique (301) ; former une seconde couche d'électrode (402) sur la deuxième couche diélectrique (302), la seconde couche d'électrode (402) recouvrant la deuxième couche diélectrique (302) ; et former une troisième couche diélectrique (303), la partie restante de la première tranchée (201) étant remplie avec la troisième couche diélectrique (303).[Chinese] 一种沟槽电容(100)的制备方法、沟槽电容(100)及封装结构,方法至少可以包括:提供基底(10),基底(10)具有第一沟槽(201);在第一沟槽(201)中形成第一电极层(401),第一电极层(401)覆盖第一沟槽(201)且覆盖基底(10)表面;形成第一介质层(301),第一介质层(301)覆盖第一电极层(401);形成第二介质层(302),第二介质层(302)至少覆盖基底(10)表面的第一介质层(301);第二介质层(302)的厚度大于第一介质层(301)的厚度;在第二介质层(302)上形成第二电极层(402),第二电极层(402)覆盖第二介质层(302);形成第三介质层(303),第三介质层(303)填满剩余的第一沟槽(201)。

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