WO2025160879 - TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPES WITH RADIATION DETECTORS
National phase entry is expected:
Publication Number
WO/2025/160879
Publication Date
07.08.2025
International Application No.
PCT/CN2024/075171
International Filing Date
01.02.2024
Title **
[English]
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPES WITH RADIATION DETECTORS
[French]
MICROSCOPES À ÉLECTRONS DE TRANSMISSION AVEC DÉTECTEURS DE RAYONNEMENT
Applicants **
SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO., LTD.
Inventors
CAO, Peiyan
Application details
| Total Number of Claims/PCT | * |
| Number of Independent Claims | * |
| Number of Priorities | * |
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| Number of Drawings | * |
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| Number of Pages with Drawings | * |
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International Searching Authority |
CNIPA
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| Recordal of a Change of the Applicant's Name/Address |
Change of Applicant's Name and Address
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| Type of Assignment |
The Standard Agent's Assignment
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| Applicant's Legal Status |
Legal Entity
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| Entry into National Phase under |
Chapter I
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| Patent Delivery |
Send the Letters Patent by Courier
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| Translation |
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Quotation for National Phase entry
| Country | Stages | Total | |
|---|---|---|---|
| China | Filing, Examination, Granting | 1800 | |
| EPO | Filing, Examination, Granting | 13856 | |
| Japan | Filing, Examination, Granting | 2296 | |
| South Korea | Filing, Examination, Granting | 2284 | |
| USA | Filing, Examination, Granting | 4740 |
Total:
24,976
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Abstract[English]
A system (121) has an electron source (1011) configured to generate an electron beam (1012), a lens subsystem (1020a, 1020b), and a radiation detector (100). The lens subsystem (1020a, 1020b) is configured to guide the electron beam (1012) from the electron source (1011) through a specimen (1030) and then toward the radiation detector (100). The radiation detector (100) is configured to capture an image of the specimen (1030) based on an interaction between the electron beam (1012) and the specimen (100). The radiation detector (100) has a radiation absorption layer (110) with an electrode (119B), a counter (320) and a controller (310). The controller (310) is configured to start a time delay from a time at which an absolute value of the voltage of the electrode (119B) equals or exceeds an absolute value of a first threshold, and is configured to increment the number registered by the counter (320), if an absolute value of the voltage equals or exceeds an absolute value of a second threshold when the time delay expires.[French]
L'invention concerne un système (121) comprenant une source d'électrons (1011) conçue pour générer un faisceau d'électrons (1012), un sous-système de lentille (1020a, 1020b) et un détecteur de rayonnement (100). Le sous-système de lentille (1020a, 1020b) est conçu pour guider le faisceau d'électrons (1012) à partir de la source d'électrons (1011) à travers un échantillon (1030) puis vers le détecteur de rayonnement (100). Le détecteur de rayonnement (100) est conçu pour capturer une image de l'échantillon (1030) sur la base d'une interaction entre le faisceau d'électrons (1012) et l'échantillon (100). Le détecteur de rayonnement (100) a une couche d'absorption de rayonnement (110) avec une électrode (119B), un compteur (320) et un dispositif de commande (310). Le dispositif de commande (310) est conçu pour démarrer un retard temporel à partir d'un instant auquel une valeur absolue de la tension de l'électrode (119B) est égale ou supérieure à une valeur absolue d'un premier seuil, et est configuré pour incrémenter le nombre enregistré par le compteur (320), si une valeur absolue de la tension est égale ou supérieure à une valeur absolue d'un second seuil lorsque le retard temporel expire.