WO2023082232 - APPARATUS AND METHOD FOR X-RAY FLUORESCENCE IMAGING

National phase entry:
Publication Number WO/2023/082232
Publication Date 19.05.2023
International Application No. PCT/CN2021/130539
International Filing Date 15.11.2021
Title **
[English] APPARATUS AND METHOD FOR X-RAY FLUORESCENCE IMAGING
[French] APPAREIL ET PROCÉDÉ D'IMAGERIE PAR FLUORESCENCE DE RAYONS X
Applicants **
SHENZHEN XPECTVISION TECHNOLOGY CO., LTD.
Inventors
CAO, Peiyan
LIU, Yurun
Application details
Total Number of Claims/PCT *
Number of Independent Claims *
Number of Priorities *
Number of Multi-Dependent Claims *
Number of Drawings *
Pages for Publication *
Number of Pages with Drawings *
Pages of Specification *
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Number of Office Actions *
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International Searching Authority
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Recordal of a Change of the Applicant's Name/Address
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Type of Assignment
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Applicant's Legal Status
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Entry into National Phase under
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Patent Delivery
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Translation

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Quotation for National Phase entry

Country StagesTotal
China Filing, Examination, Granting2068
EPO Filing, Examination, Granting15035
Japan Filing, Examination, Granting2417
South Korea Filing, Examination, Granting2494
USA Filing, Examination, Granting5940
MasterCard Visa
Total: 27,954

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Abstract[English] Apparatus(900) and methods of X-ray fluorescence (XRF) imaging use a radiation source(910) to stimulate XRF from only a slice(91) of an object(90) by projecting a radiation beam through only the slice(91). An X-ray detector stack(1000) having a plurality of mutually parallel semiconductor X-ray detectors(100) is provided. A collimator(950) having a plurality of parallel collimator plates(951) is positioned between the object(90) and the X-ray detector stack(1000). The radiation beam is not parallel to the collimator plates(951). Neighboring pairs of the collimator plates(951) allow XRF from only respective portions of the slice(91) to reach respective subsets of the pixels(150). For each of the respective pixel(150) subsets the X-ray detector(100) sums signals generated in the pixel(150) or pixels(150) of the respective subset. A pixel pitch(y151) of the X-ray detectors(100) in the X-ray detector stack(1000) is an integer multiple of a plate pitch of the collimator(950).[French] L'invention concerne un appareil (900) et des procédés d'imagerie par fluorescence de rayons X (XRF) qui utilisent une source de rayonnement (910) pour stimuler une XRF à partir d'une seule tranche (91) d'un objet (90) en projetant un faisceau de rayonnement uniquement à travers ladite tranche (91). L'invention concerne également un empilement de détecteurs de rayons X (1000) comportant une pluralité de détecteurs de rayons X à semi-conducteurs (100) parallèles entre eux. Un collimateur (950) comportant une pluralité de plaques de collimateur parallèles (951) est positionné entre l'objet (90) et l'empilement de détecteurs de rayons X (1000). Le faisceau de rayonnement n'est pas parallèle aux plaques de collimateur (951). Des paires voisines des plaques de collimateur (951) permettent à la XRF, uniquement de parties respectives de la tranche (91), d'atteindre des sous-ensembles respectifs des pixels (150). Pour chacun des sous-ensembles de pixels (150) respectifs, le détecteur de rayons X (100) additionne les signaux générés dans le pixel (150) ou les pixels (150) du sous-ensemble respectif. Un pas de pixel (y151) des détecteurs de rayons X (100) dans l'empilement de détecteurs de rayons X (1000) représente un multiple entier d'un pas de plaque du collimateur (950).